集成电路测试系统校准服务采购
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集成电路测试系统校准服务采购
| 商品名称 | 品类 | 采购数量 | 最少响应量 | 型号 |
| 高速光电耦合器自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX3187 |
| 半导体分立器件测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | EC3193 |
| 半导体分立器件测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | EC3193 |
| 分立器件动态参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX9600 |
| 动态参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX9600 |
| 大功率分立器件测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX9300 |
| (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS2107 |
| 分立器件测试仪 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS2103 |
| 数 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS2101B |
| 模 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ASL-1000 |
| 数 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ETS868 |
| MEMS加速度计晶圆级自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS6100 |
| 大规模数 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | J750EX |
| 半导 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS8107A |
| 半导 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ST* |
| 存储器测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | T5833ES |
| 继电器综合参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ST* |
| 微结构Q值测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | FS380+定制 |
| 模拟半导 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS8205 |
| 电阻自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS* |
| MEMS加速度计晶圆级自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS6100 |
| 模 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ASL-1000 |
| 微系统鑫层寄生参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | Semishare X8 |
| 半导体数模混 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | V*数字通道 |
| 电源测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-621B |
| 电源类器件自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-611 |
| 光耦器件自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-613 |
| 连接器自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-614 |
| 放大器自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-612 |
| 商品名称 | 品类 | 采购数量 | 最少响应量 | 型号 |
| 高速光电耦合器自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX3187 |
| 半导体分立器件测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | EC3193 |
| 半导体分立器件测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | EC3193 |
| 分立器件动态参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX9600 |
| 动态参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX9600 |
| 大功率分立器件测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | LX9300 |
| (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS2107 |
| 分立器件测试仪 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS2103 |
| 数 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS2101B |
| 模 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ASL-1000 |
| 数 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ETS868 |
| MEMS加速度计晶圆级自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS6100 |
| 大规模数 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | J750EX |
| 半导 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS8107A |
| 半导 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ST* |
| 存储器测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | T5833ES |
| 继电器综合参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ST* |
| 微结构Q值测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | FS380+定制 |
| 模拟半导 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS8205 |
| 电阻自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS* |
| MEMS加速度计晶圆级自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | STS6100 |
| 模 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | ASL-1000 |
| 微系统鑫层寄生参数测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | Semishare X8 |
| 半导体数模混 (略) 测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | V*数字通道 |
| 电源测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-621B |
| 电源类器件自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-611 |
| 光耦器件自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-613 |
| 连接器自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-614 |
| 放大器自动测试系统 | 服务类 | 1.0台 | 1.0台 | UI-612 |
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