万分之一分析天平
万分之一分析天平
序号 | 设备名称 | 数量/单位 | 预算单价 | 品牌 | 型号 | 规格参数 | 质保及售后服务 | 附件 |
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1 | 万分之一分析天平 | 1(台) | 赛多利斯(sartorius) | BSA224S-CW | 测量范围:220 g 分辨率:0.1 mg 秤盘尺寸:Φ90 mm 校准方式:内校 数据接口:RS-232C 显示方式:液晶LCD 通用技术条件:符合ISO/GLP的打印输出 | 按行业标准提供服务。 |
序号 | 设备名称 | 数量/单位 | 预算单价 | 品牌 | 型号 | 规格参数 | 质保及售后服务 | 附件 |
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1 | 万分之一分析天平 | 1(台) | 赛多利斯(sartorius) | BSA224S-CW | 测量范围:220 g 分辨率:0.1 mg 秤盘尺寸:Φ90 mm 校准方式:内校 数据接口:RS-232C 显示方式:液晶LCD 通用技术条件:符合ISO/GLP的打印输出 | 按行业标准提供服务。 |
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