低温半导体器件特性测试系统采购
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低温半导体器件特性测试系统采购
| 采购项目名称 | 低温半导体器件特性测试系统 | 采购项目编号 | 清设比选 点击查看>> 号 |
|---|---|---|---|
| 公告开始时间 | 点击查看>> * : * : * | 公告截止时间 | 点击查看>> * : * : * |
| 采购单位 | (略) | 付款方式 | 合同签订后付款 * %,验收合格后 * 周付尾款 * % |
| 对外联系人 | 安然 | 联系电话 | 点击查看>> |
| 签约时间要求 | 成交后3个工作日 (如不按时签订合同，采购单位有权取消或变更采购结果) | 交货时间要求 | 签订合同后3个工作日 |
| 最高限价 | 未公布 | ||
| 交货地址 | (略) | ||
| 供应商特殊资质要求 |
无 |
||
| 物资名称 | 采购数量 | 计量单位 |
|---|---|---|
| 低温半导体器件特性测试系统 | 1 | 台 |
| 技术参数及配置要求 |
1.可控温度范围： * K- * K 2.制冷形式：采用开环制冷，液氦或液氮降温， 3.温度控制方式：控温仪为 * 通道，可分 (略) 控温，监测探针臂的温度，安装温度计和加热器， (略) 快速回温, 具有探针臂温度监测功能 4. 提供4个探针臂：4个直流探针臂，可以测量DC和低频信号 5. 直流探针频率：DC- * MHz 6. 直流探针臂漏电流：< * fA，提供用实际样品测试的测试数据以备考察 7. 直流探针具有Guard保护结构设计， (略) 微弱电信号测量，减少漏电流 8. 探针臂的 (略) 程：可移动的X、Y、 (略) 程分别为 * mm、 * mm、 * mm 9. 显微镜系统提供环形光和轴向光 * 种照 (略) ，适合不同材料的测试需要,光学分辨率优于4μm * . 液氮存储罐，容积 * L |
|---|---|
| 质保期 | * 个月 |
(略)
点击查看>> * : * : *
| 采购项目名称 | 低温半导体器件特性测试系统 | 采购项目编号 | 清设比选 点击查看>> 号 |
|---|---|---|---|
| 公告开始时间 | 点击查看>> * : * : * | 公告截止时间 | 点击查看>> * : * : * |
| 采购单位 | (略) | 付款方式 | 合同签订后付款 * %,验收合格后 * 周付尾款 * % |
| 对外联系人 | 安然 | 联系电话 | 点击查看>> |
| 签约时间要求 | 成交后3个工作日 (如不按时签订合同，采购单位有权取消或变更采购结果) | 交货时间要求 | 签订合同后3个工作日 |
| 最高限价 | 未公布 | ||
| 交货地址 | (略) | ||
| 供应商特殊资质要求 |
无 |
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| 物资名称 | 采购数量 | 计量单位 |
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| 低温半导体器件特性测试系统 | 1 | 台 |
| 技术参数及配置要求 |
1.可控温度范围： * K- * K 2.制冷形式：采用开环制冷，液氦或液氮降温， 3.温度控制方式：控温仪为 * 通道，可分 (略) 控温，监测探针臂的温度，安装温度计和加热器， (略) 快速回温, 具有探针臂温度监测功能 4. 提供4个探针臂：4个直流探针臂，可以测量DC和低频信号 5. 直流探针频率：DC- * MHz 6. 直流探针臂漏电流：< * fA，提供用实际样品测试的测试数据以备考察 7. 直流探针具有Guard保护结构设计， (略) 微弱电信号测量，减少漏电流 8. 探针臂的 (略) 程：可移动的X、Y、 (略) 程分别为 * mm、 * mm、 * mm 9. 显微镜系统提供环形光和轴向光 * 种照 (略) ，适合不同材料的测试需要,光学分辨率优于4μm * . 液氮存储罐，容积 * L |
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| 质保期 | * 个月 |
(略)
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