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邯郸学院材料分析测试实验室(进口)项目(二次)变更公告
邯郸学院材料分析测试实验室(进口)项目(二次)变更公告
(略) 材料分析测试实验室(进口)项目( * 次)更正公告
* 、项目基本情况:
原公告的采购项目编号:HBJA- 点击查看>>
首次公告日期: 点击查看>>
* 、更正信息
1、铁电分析仪
原参数:
1.1.1.主机测试电压范围:0到± * V,在无外接放大器的条件下;
变更为:
1.1.1.主机测试电压范围:0到± * V
原参数:
★ 1.2. * 位的模数转换器;
变更为:
* 位的模数转换器;
原参数:
★ 1.6. 电滞回线测试功能参数:
变更为:
1.6. 电滞回线测试功能参数:
原参数:
★ 1.7. 记忆特性测试功能参数:
变更为:
1.7. 记忆特性测试功能参数:
2、紫外可见近红外分光光度计
原参数:
2.2.2 分光器: 2片× 2片光栅式双单色器
预置单色器:凹面衍射光栅分光器,主单色器:象差校正型切尼尔—特纳分光器
变更为:
2.2.2 分光器: 光栅式双单色器
原参数:
2.2.3 测定波长范围: * ~ * nm
变更为:
★2.2.3 测定波长范围: * ~ * nm
原参数:
2.2.5 波长重复精度: 紫外、可见区:±0. * nm以内
近红外区:±0. * nm以内
变更为:
2.2.5 波长重复精度: 紫外、可见区:±0. * nm 近红外区:±0. 2 nm
原参数:
★ 2.2.6 波长扫描速度:
波长移动速度:紫外、可见区:约 * 0 nm/min
近红外区:约 * 0 nm/min;
波长扫描速度:紫外、可见区:约 * nm/min
近红外PMT/InGaAs区:约 * nm/min
近红外PbS区:约 * nm/min( (略) 需时间除外)
变更为:
2.2.6 波长扫描速度:0.3至 * nm/min
原参数:
2.2.9 谱带宽度: 紫外、可见区:0.1/0.2/0.5/1/2/3/5/8 nm 8档转换
近红外区:0.2/0.5/1/2/3/5/8/ * / * / * nm * 档转换
变更为:
2.2.9 光谱带宽: UV-Vis:0.1 nm、0.2 nm、0.5 nm、1 nm、2 nm、5 nm、 * nm;
NIR:0. * nm、0.5nm;1~ * nm (自动控制)
原参数:
★ 2.2. * 杂散光: 0. * 8%以下( * nm,NaI)
变更为:
2.2. * 杂散光:UV-Vis: 0.5 % ( * nm KCl );0. * % ( * nm NaI );0. * % ( * nm、 * nm 、NaNO2 );NIR: 0. * % ( * nm: H2O)
原参数:
2.2. * 测光范围: 吸光度:-6~6 Abs
变更为:
2.2. * 测光范围: 吸光度:-5~5 Abs
原参数:
2.2. * 光度重复精度:±0. * Abs.(0~0.5 Abs),±0. * Abs(0.5~1.0 Abs)
1秒计算,5次测定的最大偏差
变更为:
2.2. * 光度重复精度:±0. * ABS(0-0.5ABS),±0. * ABS(0.5-1ABS),
±0. * ABS(1.0-2.0ABS),±0.1%T
原参数:
★ 2.2. * 噪: 0. * 5 Abs RMS ( * nm) 0. * 8 Abs 以下 ( * nm)
0. * 3 Abs 以下 ( * nm) 狭缝2 nm,1秒响应时的RMS值
变更为:
★ 2.2. * 噪声水平:0. * 3 ABS(RMS, * nm, 狭缝宽度:2nm);0. * 3 ABS(RMS, * nm, 自动狭缝宽度)
原参数:
★ 2.2. * 基线平直度:±0. * Abs( 点击查看>> nm)
±0. * Abs( 点击查看>> nm)
±0. * Abs( 点击查看>> nm)
变更为:
★ 2.2. * 基线平坦度:±0. * ABS ( 点击查看>> nm);
±0. * ABS ( * -2, * nm);
±0. * ABS (2, * -3, * nm)
原参数:
★ 2.2. * 检测器: 紫外、可见区:光电倍增管R- *
近红外区:InGaAs光电 * 极管和冷却型PbS光电导原件
变更为:
2.2. * 检测器:高灵敏度光电倍增管(UV-VIS),冷的PbS(NIR)
原参数:
★ 3 (略) 商针对此项目授权书和售后服务承诺
更改为:
★ 3 (略) 商或其国内总代理针对此项目授权书和售后服务承诺
原开标时间
* 日 * 点 * 分
更改为
* 日 * 点 * 分
(略) 材料分析测试实验室(进口)项目( * 次)更正公告
* 、项目基本情况:
原公告的采购项目编号:HBJA- 点击查看>>
首次公告日期: 点击查看>>
* 、更正信息
1、铁电分析仪
原参数:
1.1.1.主机测试电压范围:0到± * V,在无外接放大器的条件下;
变更为:
1.1.1.主机测试电压范围:0到± * V
原参数:
★ 1.2. * 位的模数转换器;
变更为:
* 位的模数转换器;
原参数:
★ 1.6. 电滞回线测试功能参数:
变更为:
1.6. 电滞回线测试功能参数:
原参数:
★ 1.7. 记忆特性测试功能参数:
变更为:
1.7. 记忆特性测试功能参数:
2、紫外可见近红外分光光度计
原参数:
2.2.2 分光器: 2片× 2片光栅式双单色器
预置单色器:凹面衍射光栅分光器,主单色器:象差校正型切尼尔—特纳分光器
变更为:
2.2.2 分光器: 光栅式双单色器
原参数:
2.2.3 测定波长范围: * ~ * nm
变更为:
★2.2.3 测定波长范围: * ~ * nm
原参数:
2.2.5 波长重复精度: 紫外、可见区:±0. * nm以内
近红外区:±0. * nm以内
变更为:
2.2.5 波长重复精度: 紫外、可见区:±0. * nm 近红外区:±0. 2 nm
原参数:
★ 2.2.6 波长扫描速度:
波长移动速度:紫外、可见区:约 * 0 nm/min
近红外区:约 * 0 nm/min;
波长扫描速度:紫外、可见区:约 * nm/min
近红外PMT/InGaAs区:约 * nm/min
近红外PbS区:约 * nm/min( (略) 需时间除外)
变更为:
2.2.6 波长扫描速度:0.3至 * nm/min
原参数:
2.2.9 谱带宽度: 紫外、可见区:0.1/0.2/0.5/1/2/3/5/8 nm 8档转换
近红外区:0.2/0.5/1/2/3/5/8/ * / * / * nm * 档转换
变更为:
2.2.9 光谱带宽: UV-Vis:0.1 nm、0.2 nm、0.5 nm、1 nm、2 nm、5 nm、 * nm;
NIR:0. * nm、0.5nm;1~ * nm (自动控制)
原参数:
★ 2.2. * 杂散光: 0. * 8%以下( * nm,NaI)
变更为:
2.2. * 杂散光:UV-Vis: 0.5 % ( * nm KCl );0. * % ( * nm NaI );0. * % ( * nm、 * nm 、NaNO2 );NIR: 0. * % ( * nm: H2O)
原参数:
2.2. * 测光范围: 吸光度:-6~6 Abs
变更为:
2.2. * 测光范围: 吸光度:-5~5 Abs
原参数:
2.2. * 光度重复精度:±0. * Abs.(0~0.5 Abs),±0. * Abs(0.5~1.0 Abs)
1秒计算,5次测定的最大偏差
变更为:
2.2. * 光度重复精度:±0. * ABS(0-0.5ABS),±0. * ABS(0.5-1ABS),
±0. * ABS(1.0-2.0ABS),±0.1%T
原参数:
★ 2.2. * 噪: 0. * 5 Abs RMS ( * nm) 0. * 8 Abs 以下 ( * nm)
0. * 3 Abs 以下 ( * nm) 狭缝2 nm,1秒响应时的RMS值
变更为:
★ 2.2. * 噪声水平:0. * 3 ABS(RMS, * nm, 狭缝宽度:2nm);0. * 3 ABS(RMS, * nm, 自动狭缝宽度)
原参数:
★ 2.2. * 基线平直度:±0. * Abs( 点击查看>> nm)
±0. * Abs( 点击查看>> nm)
±0. * Abs( 点击查看>> nm)
变更为:
★ 2.2. * 基线平坦度:±0. * ABS ( 点击查看>> nm);
±0. * ABS ( * -2, * nm);
±0. * ABS (2, * -3, * nm)
原参数:
★ 2.2. * 检测器: 紫外、可见区:光电倍增管R- *
近红外区:InGaAs光电 * 极管和冷却型PbS光电导原件
变更为:
2.2. * 检测器:高灵敏度光电倍增管(UV-VIS),冷的PbS(NIR)
原参数:
★ 3 (略) 商针对此项目授权书和售后服务承诺
更改为:
★ 3 (略) 商或其国内总代理针对此项目授权书和售后服务承诺
原开标时间
* 日 * 点 * 分
更改为
* 日 * 点 * 分
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