纳米粒度和ZETA电位分析仪（JLU-KC22065）废标公告

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纳米粒度和ZETA电位分析仪（JLU-KC22065）废标公告

项目名称纳米粒度和ZETA电位分析仪项目编号JLU-KC*
公告开始日期*公告截止日期*
采购单位吉林大学付款方式T/T到付
联系人中标后在我参与的项目中查看联系电话中标后在我参与的项目中查看
签约时间要求成交后30个工作日内到货时间要求收到信用证后90个工作日内
预 算无
收货地址吉林大学
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购商品采购数量计量单位所属分类
纳米粒度和ZETA电位分析仪1台其他特种设备
品牌马尔文帕纳科
型号Zetasizer Pro
品牌2无
型号无
品牌3无
型号无
预算无
技术参数及配置要求主要配置包括：1. 主机系统；2. 粒度测量系统；3. ZETA电位测量系统；4. 仪器操作软件 技术参数：1. 主机系统：1.1高稳定性He-Ne激光器，633nm波长1.2 激光能量调整：自动，透过率调节范围：100%-0.0003%1.3 雪崩式光电二极管APD检测器，超高灵敏度，量子效率QE高于60%1.4 温度控制范围：0-120℃，精度+/- 0.1℃1.5 可进行粒度和电位温度趋势和时间趋势测量，生成趋势报告1.6 中英文操作手册，应用软件终身免费升级2. 粒度测量系统：2.1 检测角度：先进的非侵入背散射 (NIBS)173°， 13°2.2 检测范围：0.3 nm－*nm2.3 检测位置可自动连续移动，聚焦点范围：距池壁0.45 mm–4.65 mm2.4 最小样品量：12μL3. ZETA电位测量：3.1 Zeta适合检测粒度范围：3.8nm-100um3.2 Zeta电位范围：无有效限制3.3 采用高频快场+低频慢场测量技术，无需校准样品池，完全克服电渗影响3.4 采用可抛弃式毛细管流动池，避免交叉污染3.5 最小样品量 20μL3.6 电导率范围：0-260 mS/cm4. 软件功能4.1 具备SOP标准操作规程4.2 提供专家诊断程序，判断测试质量4.3 灰尘过滤器 - 消除灰尘影响
售后服务 (略) 点:外地;电话支持:7x8小时;服务年限:一年;服务时限:报修后24小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品;质保期:一年;

信息来源：http://**
项目名称纳米粒度和ZETA电位分析仪项目编号JLU-KC*
公告开始日期*公告截止日期*
采购单位吉林大学付款方式T/T到付
联系人中标后在我参与的项目中查看联系电话中标后在我参与的项目中查看
签约时间要求成交后30个工作日内到货时间要求收到信用证后90个工作日内
预 算无
收货地址吉林大学
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购商品采购数量计量单位所属分类
纳米粒度和ZETA电位分析仪1台其他特种设备
品牌马尔文帕纳科
型号Zetasizer Pro
品牌2无
型号无
品牌3无
型号无
预算无
技术参数及配置要求主要配置包括：1. 主机系统；2. 粒度测量系统；3. ZETA电位测量系统；4. 仪器操作软件 技术参数：1. 主机系统：1.1高稳定性He-Ne激光器，633nm波长1.2 激光能量调整：自动，透过率调节范围：100%-0.0003%1.3 雪崩式光电二极管APD检测器，超高灵敏度，量子效率QE高于60%1.4 温度控制范围：0-120℃，精度+/- 0.1℃1.5 可进行粒度和电位温度趋势和时间趋势测量，生成趋势报告1.6 中英文操作手册，应用软件终身免费升级2. 粒度测量系统：2.1 检测角度：先进的非侵入背散射 (NIBS)173°， 13°2.2 检测范围：0.3 nm－*nm2.3 检测位置可自动连续移动，聚焦点范围：距池壁0.45 mm–4.65 mm2.4 最小样品量：12μL3. ZETA电位测量：3.1 Zeta适合检测粒度范围：3.8nm-100um3.2 Zeta电位范围：无有效限制3.3 采用高频快场+低频慢场测量技术，无需校准样品池，完全克服电渗影响3.4 采用可抛弃式毛细管流动池，避免交叉污染3.5 最小样品量 20μL3.6 电导率范围：0-260 mS/cm4. 软件功能4.1 具备SOP标准操作规程4.2 提供专家诊断程序，判断测试质量4.3 灰尘过滤器 - 消除灰尘影响
售后服务 (略) 点:外地;电话支持:7x8小时;服务年限:一年;服务时限:报修后24小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品;质保期:一年;

信息来源：http://**
    
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