增强型接触角仪等设备招标变更
增强型接触角仪等设备招标变更
序号 |
设备名称 |
详 细 技 术 指 标 及 参 数 |
单位 |
数量 |
1 |
多功能纳米薄膜一体化制备仪 |
1)用户通过PC机配套软 (略) (略) 控制,可以对提拉次数,提拉速度、以及反应溶 (略) 控制,从而可以实现对复合纳米多层薄膜 (略) 全自动化的控制。 (2)可以实现了 (略) 不少于三种不同组分的复合膜的生长,并且自动可控选液,全自动操作,包括提拉次数,提拉速度,浸泡时间等。 (3)可以实现精度为不小于1.5的温度控制, (略) 有选择的可控干燥。 (4) (略) 全自动操作,多层膜,多组分一体化全自动完成。 (5)通过步进电机来驱动提拉装置加热装置, (略) 提拉、以及温度的控制,同时可以通过旋转平台对 (略) 选择。 (6)pc机配套软件可以对数据库、工艺配方、 (略) 选择,实现人性化操作。 主要参数 指标 (略) 程 200mm 线速度范围 (5-- 点击查看>> )um/min或(0.0001----6.5)mm/s 分辨率 不低于10um/min 恒温装置(选配) 范围不小于室温—150°C 浸渍时间 大范围可调(1~9999)s 镀膜次数 大范围可调(1~9999)次 每次镀膜间隔时间 大范围可调(1~9999)s 额定线性推力 >10N 控制精度 ≤0.95% 主机尺寸W×D×H (260×200×570)mm 左右 温控 精度不小于0.5度 整机重量 约25kg 功耗 <200W (略) 参数 酷睿双核主频大于2.4GHz、内存4G、500GSATA、19寸液晶显示器、独立显卡、ComModPlus控制接口 |
台 |
2 |
序号 |
设备名称 |
详 细 技 术 指 标 及 参 数 |
单位 |
数量 |
5 |
CCD多功能实验仪(基本型) |
主要参数: 1.线阵CCD传感器,TCD1251D,有效像元数:2700;像元尺寸:11μm×11μm, (略) 距11μm;有效长度28.6mm;输出电压典型值为2V;光谱范围0.2um~0.9um;像素单元驱动周期0.8uS~102uS可调;曝光时间2mS~1000mS可调; 模拟信号输出,5V;数字信号输出,TTL电平; 3.操作系统兼容Microsoft Windows98、Windows2000、WindowsXP; 4.数据采集系统采用8位分辨率,USB2.0方式,采集速度不低于5MHz的高速数据采集系统; 5.光源采用白色LED远心照 (略) 源; 6.成像物镜选用焦距:50mm ;相对孔径:2; 7.输入电源电压:AC220V;典型功耗:10W; 开设实验内容: 1.线阵CCD 原理与驱动特性 2.线阵CCD 输出特性的测量 3.利用线阵CCD 进行物体外形尺寸的测量 4.线阵CCD 的A/D 数据采集 5.用软件提取边缘信号的二值化 6.利用线阵CCD 测量物体的倾斜角度 7.条形码的测量与识别实验 8.用线阵CCD 测量物体的振动 9..利用线阵 进行图像扫描 10.编写线阵CCD 的A/D 数据采集程序 11.利用 (略) 实物尺寸测量 12.尺寸测量实验,由3个粗细不等的测试杆完成; 13.倾斜角测量实验,测量两个锥体之间的斜面; 14.锥度测量,利用CCD测量两个倾斜面从而测量出锥度; 15.能够测量从2到9mm之间的尺寸; 16.配备DEMO演示软件与SDK开发软件包(或动态链接库函数)标配具有二次开发功能。 |
台 |
5 |
序号 |
设备名称 |
详 细 技 术 指 标 及 参 数 |
单位 |
数量 |
1 |
多功能纳米薄膜一体化制备仪 |
1)用户通过PC机配套软 (略) (略) 控制,可以对提拉次数,提拉速度、以及反应溶 (略) 控制,从而可以实现对复合纳米多层薄膜 (略) 全自动化的控制。 (2)可以实现了 (略) 不少于三种不同组分的复合膜的生长,并且自动可控选液,全自动操作,包括提拉次数,提拉速度,浸泡时间等。 (3)可以实现精度为不小于1.5的温度控制, (略) 有选择的可控干燥。 (4) (略) 全自动操作,多层膜,多组分一体化全自动完成。 (5)通过步进电机来驱动提拉装置加热装置, (略) 提拉、以及温度的控制,同时可以通过旋转平台对 (略) 选择。 (6)pc机配套软件可以对数据库、工艺配方、 (略) 选择,实现人性化操作。 主要参数 指标 (略) 程 200mm 线速度范围 (5-- 点击查看>> )um/min或(0.0001----6.5)mm/s 分辨率 不低于10um/min 恒温装置(选配) 范围不小于室温—150°C 浸渍时间 大范围可调(1~9999)s 镀膜次数 大范围可调(1~9999)次 每次镀膜间隔时间 大范围可调(1~9999)s 额定线性推力 >10N 控制精度 ≤0.95% 主机尺寸W×D×H (260×200×570)mm 左右 温控 精度不小于0.5度 整机重量 约25kg 功耗 <200W (略) 参数 酷睿双核主频大于2.4GHz、内存4G、500GSATA、19寸液晶显示器、独立显卡、ComModPlus控制接口 |
台 |
2 |
序号 |
设备名称 |
详 细 技 术 指 标 及 参 数 |
单位 |
数量 |
5 |
CCD多功能实验仪(基本型) |
主要参数: 1.线阵CCD传感器,TCD1251D,有效像元数:2700;像元尺寸:11μm×11μm, (略) 距11μm;有效长度28.6mm;输出电压典型值为2V;光谱范围0.2um~0.9um;像素单元驱动周期0.8uS~102uS可调;曝光时间2mS~1000mS可调; 模拟信号输出,5V;数字信号输出,TTL电平; 3.操作系统兼容Microsoft Windows98、Windows2000、WindowsXP; 4.数据采集系统采用8位分辨率,USB2.0方式,采集速度不低于5MHz的高速数据采集系统; 5.光源采用白色LED远心照 (略) 源; 6.成像物镜选用焦距:50mm ;相对孔径:2; 7.输入电源电压:AC220V;典型功耗:10W; 开设实验内容: 1.线阵CCD 原理与驱动特性 2.线阵CCD 输出特性的测量 3.利用线阵CCD 进行物体外形尺寸的测量 4.线阵CCD 的A/D 数据采集 5.用软件提取边缘信号的二值化 6.利用线阵CCD 测量物体的倾斜角度 7.条形码的测量与识别实验 8.用线阵CCD 测量物体的振动 9..利用线阵 进行图像扫描 10.编写线阵CCD 的A/D 数据采集程序 11.利用 (略) 实物尺寸测量 12.尺寸测量实验,由3个粗细不等的测试杆完成; 13.倾斜角测量实验,测量两个锥体之间的斜面; 14.锥度测量,利用CCD测量两个倾斜面从而测量出锥度; 15.能够测量从2到9mm之间的尺寸; 16.配备DEMO演示软件与SDK开发软件包(或动态链接库函数)标配具有二次开发功能。 |
台 |
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