芯片可靠性试验服务废标公告
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芯片可靠性试验服务废标公告
| 项目名称 | chiplet芯片可靠性试验服务 | 项目编号 | ZJLAB-FS-BX* |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | * | 公告截止日期 | * |
| 采购单位 | 之江实验室 | 付款方式 | 合同签订后预付70%，测试验收后支付30% |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后15个工作日内 | 到货时间要求 | 无 |
| 预 算 | *.0 | ||
| 收货地址 | 无 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| chiplet芯片可靠性试验测试 | 1 | 项 | 其他信息技术服务 |
| 品牌 | 无 |
|---|---|
| 型号 | 无 |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | *.0 |
| 技术参数及配置要求 | 1、完成chiplet芯片可靠性试验2次，每次试验包括有：（1）热真空试验（2）振动试验（3）常压温循试验每项试验的试验要求参考试验大纲。2、工作条件及协作事项（双方协商）（1）*方检验/试验前向*方提供试验大纲（签署完整）和相关试验技术资料。（2）*方提供被测器件及检测设备。（3）*方负责检验/试验方案的制定和测试及结果分析，与*方共同处理检验/试验数据并形成检验/试验报告。（4）*方负责检验/试验时间、进度安排，提供的检验/试验设备必须经过检定或校准，且在有效期内，并保证检验/试验装置正常运行。检验/试验结束后，由*方及时将试验结果及其在型号或器件研制中的应用情况反馈给*方。 |
| 售后服务 | 提供增值税专用发票，*方负责向*方提供技术服务*年。; |
| 项目名称 | chiplet芯片可靠性试验服务 | 项目编号 | ZJLAB-FS-BX* |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | * | 公告截止日期 | * |
| 采购单位 | 之江实验室 | 付款方式 | 合同签订后预付70%，测试验收后支付30% |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后15个工作日内 | 到货时间要求 | 无 |
| 预 算 | *.0 | ||
| 收货地址 | 无 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| chiplet芯片可靠性试验测试 | 1 | 项 | 其他信息技术服务 |
| 品牌 | 无 |
|---|---|
| 型号 | 无 |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | *.0 |
| 技术参数及配置要求 | 1、完成chiplet芯片可靠性试验2次，每次试验包括有：（1）热真空试验（2）振动试验（3）常压温循试验每项试验的试验要求参考试验大纲。2、工作条件及协作事项（双方协商）（1）*方检验/试验前向*方提供试验大纲（签署完整）和相关试验技术资料。（2）*方提供被测器件及检测设备。（3）*方负责检验/试验方案的制定和测试及结果分析，与*方共同处理检验/试验数据并形成检验/试验报告。（4）*方负责检验/试验时间、进度安排，提供的检验/试验设备必须经过检定或校准，且在有效期内，并保证检验/试验装置正常运行。检验/试验结束后，由*方及时将试验结果及其在型号或器件研制中的应用情况反馈给*方。 |
| 售后服务 | 提供增值税专用发票，*方负责向*方提供技术服务*年。; |
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