多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统芯片形貌特征检测系统公告变更
多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统芯片形貌特征检测系统公告变更
成都 (略)
多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统(芯片形貌特征检测系统)
终止公告
招标编号:GKHK-24H127
本招标项目多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统(芯片形貌特征检测系统),至投标文件递交截止时间止,递交投标文件的投标人不足法定开标条件,本次招标活动终止。
特此公告。
名称:成都 (略)
地址: (略) 青羊区黄田坝
联 系 人:宋老师
电 话:028-*
招标代理机构::北京国科 (略)
地址: (略) 海淀区中关村南大街31号神舟大厦9层
联系人:李杰 罗杰 姚子良
电话:*
电子邮件:*@*63.com
成都 (略)
多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统(芯片形貌特征检测系统)
终止公告
招标编号:GKHK-24H127
本招标项目多参量耦合环境下的敏感元件可靠性测试验证系统(芯片形貌特征检测系统),至投标文件递交截止时间止,递交投标文件的投标人不足法定开标条件,本次招标活动终止。
特此公告。
名称:成都 (略)
地址: (略) 青羊区黄田坝
联 系 人:宋老师
电 话:028-*
招标代理机构::北京国科 (略)
地址: (略) 海淀区中关村南大街31号神舟大厦9层
联系人:李杰 罗杰 姚子良
电话:*
电子邮件:*@*63.com
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