0834-1641SH16A123/07半导体材料电学性质测量综合系统国际招标澄清或变更公告(1)
0834-1641SH16A123/07半导体材料电学性质测量综合系统国际招标澄清或变更公告(1)
序号 | 产品名称 | 数量 | 简要技术规格 | 备注 |
点击查看>> SH16A123/01 | 示波器 | 10套 | 带宽≥200MHz(可升级) | |
点击查看>> SH16A123/02 | 信号分析仪、 (略) 络分析仪设备(VNA)及配件、多功能手持微波测量仪、偏振综合仪、频谱仪、信号参数分析器、快速扫描紧凑型可调谐激光器 | 1批 | 参考频率稳定度≤±1x10e-6/年 | |
点击查看>> SH16A123/03 | EDA专业设计软件(使用许可权) | 2套 | 支持Linux操作系统 | |
点击查看>> SH16A123/04 | 微波电路仿真软件(使用许可权) | 1套 | 仿真开发软件应提供 (略) 的设计界面 | |
点击查看>> SH16A123/05 | 光谱分析仪 | 1套 | 测量范围:600nm - 1700nm | |
点击查看>> SH16A123/06 | 高功率掺铒光纤放大器、激光源(低噪声光纤激光器) | 1批 | 波长:1550nm | |
点击查看>> SH16A123/07 | 半导体材料电学性质测量综合系统 | 1套 | 磁场分辨率: 0.016 mT | |
点击查看>> SH16A123/08 | 低温探针台 | 1套 | 温度范围:4.5K-475K | |
点击查看>> SH16A123/09 | 室温高频探针台 | 1套 | 真空度:200 mbar | |
点击查看>> SH16A123/10 | 液氮变温低温恒温器 | 1套 | 降温时间15分钟到10K | |
点击查看>> SH16A123/11 | 芯片焊接机 | 1套 | 压缩气:50psig,1/4”接口 | |
点击查看>> SH16A123/12 | 傅里叶变换红外光谱仪 | 1套 | 分辨率: 优于0.09cm-1 | |
点击查看>> SH16A123/13 | PXI( (略) 件互连仪器扩展)模块化实验平台 | 1套 | 系统机箱具有1个能将PCI Express连接集成至各个插槽的背板,可满足各种测试和测量应用的需求 | |
点击查看>> SH16A123/14 | 受激发射损耗光片显微镜 | 1套 | 紫外激光:405nm |
序号 | 产品名称 | 数量 | 简要技术规格 | 备注 |
点击查看>> SH16A123/01 | 示波器 | 10套 | 带宽≥200MHz(可升级) | |
点击查看>> SH16A123/02 | 信号分析仪、 (略) 络分析仪设备(VNA)及配件、多功能手持微波测量仪、偏振综合仪、频谱仪、信号参数分析器、快速扫描紧凑型可调谐激光器 | 1批 | 参考频率稳定度≤±1x10e-6/年 | |
点击查看>> SH16A123/03 | EDA专业设计软件(使用许可权) | 2套 | 支持Linux操作系统 | |
点击查看>> SH16A123/04 | 微波电路仿真软件(使用许可权) | 1套 | 仿真开发软件应提供 (略) 的设计界面 | |
点击查看>> SH16A123/05 | 光谱分析仪 | 1套 | 测量范围:600nm - 1700nm | |
点击查看>> SH16A123/06 | 高功率掺铒光纤放大器、激光源(低噪声光纤激光器) | 1批 | 波长:1550nm | |
点击查看>> SH16A123/07 | 半导体材料电学性质测量综合系统 | 1套 | 磁场分辨率: 0.016 mT | |
点击查看>> SH16A123/08 | 低温探针台 | 1套 | 温度范围:4.5K-475K | |
点击查看>> SH16A123/09 | 室温高频探针台 | 1套 | 真空度:200 mbar | |
点击查看>> SH16A123/10 | 液氮变温低温恒温器 | 1套 | 降温时间15分钟到10K | |
点击查看>> SH16A123/11 | 芯片焊接机 | 1套 | 压缩气:50psig,1/4”接口 | |
点击查看>> SH16A123/12 | 傅里叶变换红外光谱仪 | 1套 | 分辨率: 优于0.09cm-1 | |
点击查看>> SH16A123/13 | PXI( (略) 件互连仪器扩展)模块化实验平台 | 1套 | 系统机箱具有1个能将PCI Express连接集成至各个插槽的背板,可满足各种测试和测量应用的需求 | |
点击查看>> SH16A123/14 | 受激发射损耗光片显微镜 | 1套 | 紫外激光:405nm |
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