多晶硅集成式膜厚光学关键尺寸量测仪招标变更
多晶硅集成式膜厚光学关键尺寸量测仪招标变更
序号 | 产品名称 | 数量 | 简要技术规格 | 备注 |
1 | 单片式轻聚合物化学清洗机 | 2 | 详见文件 | |
2 | 单片式臭氧化学清洗机 | 2 | 详见文件 | |
3 | 单片式钨制程晶背清洗机 | 2 | 详见文件 | |
4 | 单片式钨制程化学清洗机 | 2 | 详见文件 | |
5 | 晶圆单片式晶圆清洗机 | 2 | 详见文件 | |
6 | 晶圆单片式晶圆清洗机(铜制程) | 2 | 详见文件 | |
7 | 晶圆表面沾污测量系统 | 2 | 详见文件 | |
8 | 薄膜厚度光学量测系统 | 4 | 详见文件 | |
9 | 半导体材料元素浓度测量系统 | 2 | 详见文件 | |
10 | 薄膜电性分析和硅基底测量系统 | 2 | 详见文件 | |
11 | 薄膜厚度和成分测量仪 | 2 | 详见文件 | |
12 | 薄膜厚度和成分测量系统 | 2 | 详见文件 | |
13 | 光学特征尺寸量测系统 | 4 | 详见文件 | |
14 | 介质薄膜测量系统 | 2 | 详见文件 | |
15 | 扫描电镜曝光对准测量系统 | 2 | 详见文件 | |
16 | 金属薄膜测量系统 | 2 | 详见文件 | |
17 | 晶圆质量测量系统 | 2 | 详见文件 | |
18 | 扫描电镜关键尺寸测量系统 | 4 | 详见文件 | |
19 | 扫描电镜关键尺寸测量系统 | 4 | 详见文件 | |
20 | 扫描电镜曝光对准测量系统 | 2 | 详见文件 | |
21 | 原子力显微镜系统 | 4 | 详见文件 | |
22 | 浅槽隔离集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
23 | 层间介质层集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
24 | 氧化硅集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
25 | 多晶硅集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
26 | 前段钨集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
27 | 后段钨集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
28 | 铜集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
29 | 电子束缺陷扫描量测仪 | 1 | 详见文件 | |
30 | 电子束缺陷扫描仪 | 2 | 详见文件 | |
31 | 电子显微镜 | 2 | 详见文件 | |
32 | 光学宏观缺陷扫描仪 | 3 | 详见文件 | |
33 | 光学显微镜 | 3 | 详见文件 | |
34 | iline扫描光刻机2 | 1 | 详见文件 | |
35 | 晶圆级器 (略) 测试机台 | 1 | 详见文件 |
序号 | 产品名称 | 数量 | 简要技术规格 | 备注 |
1 | 单片式轻聚合物化学清洗机 | 2 | 详见文件 | |
2 | 单片式臭氧化学清洗机 | 2 | 详见文件 | |
3 | 单片式钨制程晶背清洗机 | 2 | 详见文件 | |
4 | 单片式钨制程化学清洗机 | 2 | 详见文件 | |
5 | 晶圆单片式晶圆清洗机 | 2 | 详见文件 | |
6 | 晶圆单片式晶圆清洗机(铜制程) | 2 | 详见文件 | |
7 | 晶圆表面沾污测量系统 | 2 | 详见文件 | |
8 | 薄膜厚度光学量测系统 | 4 | 详见文件 | |
9 | 半导体材料元素浓度测量系统 | 2 | 详见文件 | |
10 | 薄膜电性分析和硅基底测量系统 | 2 | 详见文件 | |
11 | 薄膜厚度和成分测量仪 | 2 | 详见文件 | |
12 | 薄膜厚度和成分测量系统 | 2 | 详见文件 | |
13 | 光学特征尺寸量测系统 | 4 | 详见文件 | |
14 | 介质薄膜测量系统 | 2 | 详见文件 | |
15 | 扫描电镜曝光对准测量系统 | 2 | 详见文件 | |
16 | 金属薄膜测量系统 | 2 | 详见文件 | |
17 | 晶圆质量测量系统 | 2 | 详见文件 | |
18 | 扫描电镜关键尺寸测量系统 | 4 | 详见文件 | |
19 | 扫描电镜关键尺寸测量系统 | 4 | 详见文件 | |
20 | 扫描电镜曝光对准测量系统 | 2 | 详见文件 | |
21 | 原子力显微镜系统 | 4 | 详见文件 | |
22 | 浅槽隔离集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
23 | 层间介质层集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
24 | 氧化硅集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
25 | 多晶硅集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
26 | 前段钨集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
27 | 后段钨集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
28 | 铜集成式膜厚光学关键尺寸量测仪 | 2 | 详见文件 | |
29 | 电子束缺陷扫描量测仪 | 1 | 详见文件 | |
30 | 电子束缺陷扫描仪 | 2 | 详见文件 | |
31 | 电子显微镜 | 2 | 详见文件 | |
32 | 光学宏观缺陷扫描仪 | 3 | 详见文件 | |
33 | 光学显微镜 | 3 | 详见文件 | |
34 | iline扫描光刻机2 | 1 | 详见文件 | |
35 | 晶圆级器 (略) 测试机台 | 1 | 详见文件 |
最近搜索
无
热门搜索
无