硅片表面缺陷检测仪招标变更

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硅片表面缺陷检测仪招标变更

招标项目编号： 点击查看>>
项目名称：集成电路用8- * 英寸半导体硅片项目 * 工段设备采购第 * 批第 * 包: 硅片表面缺陷检测仪
项目名称(英文)：Integrated circuit with 8- * inch semiconductor silicon wafer project phase third equipment procurement eighth package of second batch
招标人：中环领 (略)
招标机构： (略) 市泛亚工 (略) 有限公司
招标机构代码： *
招标方式：公开招标
投标报价方式：线下投标
招标结果：重新招标
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项目名称：集成电路用8- * 英寸半导体硅片项目 * 工段设备采购第 * 批第 * 包: 硅片表面缺陷检测仪
项目名称(英文)：Integrated circuit with 8- * inch semiconductor silicon wafer project phase third equipment procurement eighth package of second batch
招标人：中环领 (略)
招标机构： (略) 市泛亚工 (略) 有限公司
招标机构代码： *
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