射频功率芯片封测及微电子研发中心项目采购XRF镀层厚度测量仪单一来源采购公示
射频功率芯片封测及微电子研发中心项目采购XRF镀层厚度测量仪单一来源采购公示
一、项目信息
采 购 人：长沙市振望建设开发有限公司
项目名称：射频功率芯片封测及微电子研发中心项目采购XRF镀层
厚度测量仪
项目预算：71500.00美元
拟采购的货物说明：
编号 | 设备名称 | 参数 | 数量 | 单位 | 备注 |
1 | XRF镀层厚度测量仪 | M1Mistral SDD X-射线荧光测厚仪 基础系统主机系统： 阳极X射线管基50kV平板微型XRF光谱仪采用钨靶材X射线光 管，最大功率50kV； - 原子序数从22（钛)到92(铀）的元素分析和Ti（22）-U（92）对元素测量范围电镀分析的金属进行镀层测量； - 高性能的XFlash?硅漂移探测器，当光斑大于0.5mm，对Mn-Ka分辨率小于 150eV，30mm2感应面积； - 支持30X放大通过摄像系统自动对焦样品相机系统精确的样品定位，放大系数30倍； - 可选集4个准直器，可自由切换，规格可选； - 自动X，Y，Z轴样品台； - 仪表控制单元通过USB（笔记本电脑或工作站）连接通过USB将仪器与 工作站或者笔记本相连 ； - 仪器尺寸：550×680×430mm3，重量50公斤仪器尺寸550×680× 430mm3，重50公斤； - 完全X射线辐射防护装置，经政府类型批准(证书BfS23/09V ROV，2012 年10月12日修正案)，根据德国X射线条例全X射线保护装置，符合德国X射 线条例规定（2012年于年10月12日修订） 设备基本性能： 载物台面积：300mm以上 测量点大小：30um以下 Z轴：120mm(自动对焦) 测量精度：1000hour 元素：P(15)toU(92) | 1 | 台 |
采用单一来源采购方式的原因及说明：
Bruker M1 XRF镀层厚度测量系统是一套XRF镀层量测系统，该设备可测量厚度小于0.1um,测量点大小直径20um,XYZ重复精度2um，项目配置根据需求选用或定制对应的软件包。该设备为配合公司主要客户（产品占比80%以上）建设专线，是目前功率芯片国内唯一通过该客户产品认证的量产机型。
二、拟定供应商信息
名称：香港电子器材有限公司
地址：苏州市东环路129号华东大厦东翼201室
三、公示期限
2020年8月14日至2020年8月21日（公示期限5个工作日）
四、联系方式
1.采购人
联 系 人：吕先生
联系地址：长沙市望城经济技术开发区同心路1号
联系电话：****-********
2.采购代理机构
联 系 人：杨先生
联系地址：长沙市望城区文源东路199号紫鑫中央广场写字楼1532号房
联系电话：****-********
五、附件
专业人员论证意见（格式见附件）
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