武汉科技大学武汉科技大学影像校正光栅系统采购，拟申请采购进口产品，现将有关专家论证意见进行公示。

一、项目名称

武汉科技大学影像校正光栅系统采购

二、拟采购进口产品的名称、数量、具体技术指标、功能需求及预算

影像校正光栅系统 1套
技术指标需达到以下标准：
光谱仪焦距：500mm
分辨率：优于0.06nm
光栅： 配置三块光栅、预校准、软件切换使用
光谱精度：0.04nm
波长重复性：10pm
通光口径：F/6.5
成像焦面：30x14mm
预算：12.5万

三、申请采购进口产品的理由、政策依据

1.教学实验课程《先进制造技术》和国家自然基金（《基于多尺度图谱的选区激光熔化成形精度的在线监测研究》和《基于多源信息融合的SLM成形过程在线监测理论与实现方法》）研究内容为拟采用影像校正光栅系统，监测弱光光谱下等离子体气泡的产生和变化过程，实现增材制造零部件成形缺陷的在线监测。本项目开展的基本要求是使用高精度的监测仪器。影像校正光栅系统采集到高精度、具有时间刻度光谱信息，用于理论分析，是本项目的主要技术考核指标。因此，该设备的购买对项目的开展非常重要。
2.在《先进制造技术》实验课程中以及科研项目开展中，影像校正光栅系统需要满足以下技术关键性能：
光谱仪焦距：500mm
分辨率：优于0.06nm
光栅： 配置三块光栅、预校准、软件切换使用
光谱精度：0.04nm
波长重复性：10pm
通光口径：F/6.5
成像焦面：30x14mm
3.目前国产影像校正光栅系统与进口高速相机的对比如下：
弱光条件采集：目前国内只能采集焦距为5cm以内的等离子体。进口设备可以做到焦距为50cm的等离子体观测；
时间刻度三维信号采集：国产设备只能单点单向采集信号，并且没有数据处理软件；进口设备能够做到三维信号采集，且具有时间刻度，并配套数据分析软件；
分辨率精度：国产设备只能做到2nm的精度，进口设备可以做到采样精度为0.06nm；进口设备精度高出很多。
综上，国产设备不能同时具备分辨率精度高、弱光采集、时间刻度等技术指标，不符合课题项目技术要求。因此，需要采购进口设备。

四、专家论证的意见

该套设备是教学实验课程《先进制造技术》和相关课题研究的主体且基础设备，为课题研究所必需。设备具备技术指标要求：光谱仪焦距为500mm；分辨率为优于0.06nm；配置软件切换使用；光谱精度为0.04nm。目前国内同类产品无法同时具备同时具备分辨率精度高、弱光采集、时间刻度等技术指标，无法满足工作需要。专家组同意申购单位的申请，以满足其课题研究和教学的需要。该申购设备符合《政府采购进口产品管理办法》第七条的规定，也不属于国家法律法规政策禁止和限制进口的产品。建议购置该进口产品。

五、专家名单

朱锟鹏
林旭梅
左浩毅

六、公告期限（五个工作日）

2020年09月17日至2020年09月23日

供应商若在公示期间对专家组论证意见持有异议，请将相关意见以书面形式提交至采购人。

七、联系方式

采购人：武汉科技大学

地址：武汉市青山区和平大道947号

联系人姓名：邱老师

联系电话：***-********

采购监管机构：政府采购管理处

地址：武昌区中北路8号

联系电话：***-********