郑州大学关于拟公开招标进口设备的采购公示

各潜在供应商：

郑州大学拟公开招标采购四套“实验室进口专用设备”，依照河南省财政厅“关于进一步规范政府采购操作执行行为有关问题的通知” 豫财办购[2007]20号文件规定和河南省政府采购监督管理处要求，于2012年9月3日至2012年9月9日17:00至，在“河南省政府采购网”将招标项目设备清单、技术参数等相关信息进行网上公示。

请各潜在供应商在公示期间内对公示的内容是否有倾向性、歧视性、排他性等内容提出意见或建议，所有意见或建议以书面形式向郑州大学国有资产管理处和河南省教育招标服务有限公司提出 (加盖单位公章且法人签字)，逾期不予受理。

地 址：郑州市高新技术开发区科学大道100号

联系人：王老师 电话：****-********

地址：郑州市农业路2号河南机电学校实训楼南楼500室

联系人：田群涛 电话：****-********

附：设备清单、技术参数及专家论证意见

2012年9月3日

设备一：X 射线衍射仪要求 1. X射线光源部分： 1.1高压发生器：最大输出功率：≥3kW；最大管电压：≥50kV；最大管电流：≥60mA；电流电压稳定度:优于±0.005% (外电压波动+10%时)。 1.2 标准尺寸的Cu 靶X 射线管。 2. *测角仪：q/q立式测角仪，样品水平不动。 2.1角度重现性：≤0.0001°；可读最小步长：≤0.001° 2.2驱动方式：步进马达驱动，扫描速度：0.1o ~≥50o /min；2q扫描范围：-5°~+160° 2.3三狭缝系统： DS狭缝SS、RS狭缝 2.4样品架：≥120片 3. * 检测器：双检测系统。 2.1 闪烁探测器、配带石墨弯晶单色器； 2.2 一维半导体阵列检测器：大于120个子检测器，动态范围：1 x 109 cps；最大计数：≥ 9 x 107 cps；背景：≤ 0.1 cps。应具有高计数模式及去除荧光背景模式功能，完全免维护。 4. *平行光学系统：平行光镜及薄膜附件，角度发散度 ≤0.03 o；含小角衍射模块，具有小角衍射功能。聚焦光学系统与平行光学系统为一体化，互换容易。 5. 多目的样品台：用于薄膜及极图测量，含薄膜分析软件等。 样品尺寸：Max. 80mmφ×8mm t χ軸：-5～95° （最小步宽：0.002°） φ軸：±360° （最小步宽：0.005°） 6. *小角散射光学系统： 高分辨0.03°。带真空散射光路（含真空泵）。 7. X射线防护：安全连锁机构、剂量符合国标： ￡ 1.0μsv/h。 8 仪器控制和数据采集系统，包括计算机、打印机等。 9 赠送应用软件常规数据分析功能：含物相定性检索软件、RIR定量分析软件，点阵参数精密化,晶粒大小计算与晶胞畸变&结晶度分析等应用软件，和Rietveld 无标样定量及解析软件等。 10 配备外循环水冷系统。 11 整机质保一年，光管质保两年或4000工作小时。 专家论证意见：
姓名 工作单位 技术职称 备注
高云 湖北大学 教授 技术专家
张兴旺 中国科学院北京半导体所 研究员 技术专家
梁长浩 中国科学院合肥固体物理所 研究员 技术专家
李庆奎 郑州大学 教授 技术专家
潘永建 河南郑大律师事务所 律师 法律专家
专家论证意见高云：国外产品支持多种材料检测，国内产品不具备此项功能；产品背景要求：国外产品≤0.1CPS，国内产品1-100CPS，满足不了需求；角度发散度：国外产品：≤0.03，国内产品：＞0.03，满足不了实验室要求。张兴旺、梁长浩、李庆奎：产品背景要求在：≤0.1CPS，国内在1-100CPS，无法满足实验室需求；角度发散度：国外：≤0.03，国内：＞0.03。潘永建：不属于限制进口产品，符合产业政策，符合相关法律法规。
设备二：半导体特性分析系统： 技术指标项目
4200-SCS系统指标

最大电压输出
*200V

电压源设定最小分辨率
*5μV

最大电流输出
*100mA

电流源设定最小分辨率
*1.5fA

电压测量范围
1μV-200V

电流测量范围
0-100mA

*电流测量最小分辨率
0.1fA

测量单元的A/D情况
分辨率为22位，每个测量单元都有A/D转换器

测量单元的测试线
是专门为小信号测试设计的三同轴电缆线，所有的测量单元SMU都是完全保护的四线测量结构

系统扩展性
4200-SCS半导体特性分析系统在后面板上具有9个基于PCI总线的插槽，用于插入核心测量部件—SMU，系统最多可允许插入9个SMU，在这9个SMU中，4200-SCS允许4个大功率SMU，这非常适合于用户将来为复杂的半导体和纳米器件进行测试。SMU插槽的设计采用竖型插入方式，这样可以最大程度地进行系统散热。

C-V参数测量
4200-SCS半导体特性分析系统内置1KHz-10MHz变频C-V测量单元及全部软件，可以对诸如氧化层厚度栅面积、串联电阻、平带电容/电压、开启电压、搀杂浓度，少子寿命，可动电荷等工艺参数进行分析。
*为关键指标，必须满足。 专家论证意见： 姓名 工作单位 技术职称 备注
高云 湖北大学 教授 技术专家
张兴旺 中国科学院北京半导体所 研究员 技术专家
梁长浩 中国科学院合肥固体物理所 研究员 技术专家
李庆奎 郑州大学 教授 技术专家
潘永建 河南郑大律师事务所 律师 法律专家
专家论证意见高云：国内目前只能生产低端产品，高端产品尚无生产；张兴旺：分辨率：国外产品0.1FA，国内产品：1FA，关键指标满足不了实验室需求；梁长浩、李庆奎：测试系统：国外产品有内置开发界面，具备用户修改和定制功能，国内尚无此功能；潘永建：不属于限制进口产品，符合产业政策，符合相关法律法规。

设备三：热电测试系统

1.*本装置可对热电材料的电导率（Seebeck系数）和电热导率同时进行测量。

2.*操作简单，温度范 围为室温～1000℃。

3.可以测试半导体材料，陶瓷材料，金属材料及其他材料的热电性能测定。

4.炉体由高精度，高灵敏度温度可控的红外线金面反射炉和控制温度用的微型加热源构成。

5.试样与引线的接触是否正常V-I装置可以自动检出。

6.可以测试微米厚度的薄膜的沿三维方向的热导率。

7. Seebeck 技术指标 温度设定范围
温度段及温差段 最大125段

试样尺寸
φ2～4mm，角×5～22mm

测定气氛
低压He气体中 （大气中）

8.*热导率测试技术指标:

炉体
红外镀金聚焦炉

加热速率
～100℃
10℃/min

100℃～300℃
20℃/min

300℃以上
50℃/min

冷却速率
1000℃?100℃
40min

最高温度
1200℃

9. *热导率测试精度

精度
重复误差

热导率
±5%
±3%

比热容
±7%
±5%

专家论证意见： 姓名 工作单位 技术职称 备注
高云 湖北大学 教授 技术专家
张兴旺 中国科学院北京半导体所 研究员 技术专家
梁长浩 中国科学院合肥固体物理所 研究员 技术专家
李庆奎 郑州大学 教授 技术专家
潘永建 河南郑大律师事务所 律师 法律专家
专家论证意见技术专家：经过论证后一致认为：目前国内尚无热电测试设备生产潘永建：不属于限制进口产品，符合产业政策，符合相关法律法规。
设备四：太阳能电池模拟光源及QE-IPCE综合测试系统 1． 太阳光模拟器和IV测试 参数要求：1.灯的类型：氙灯光源 2.氙灯功率：450W. 3.输出光斑面积：2х2nch *4.模拟器符合A级别的光斑均匀度；光均匀度≤2 %，符合IEC 60904-9 Edition 2 (2007) edition, JIS C 8912, and ASTM E 927-05所规定的A级别均匀度标准 * 5．模拟器符合A级别的光的波动：≤0.5% STI ≤2.0% LTI；所投标的模拟器需要符合IEC 60904-9 Edition 2 (2007) edition, JIS C 8912, and ASTM E 927-05所规定的A级光波动性的标准 * 6．模拟器符合A级别的光谱匹配度： 0.75—1.25 符合IEC 60904-9 Edition 2 (2007) edition, JIS C 8912, and ASTM E 927-05所规定的A级光谱匹配度的标准 7．带有配套的AM1.5G大气滤波片 *8．模拟器符合IEC 60904-9 Edition 2 (2007) edition, JIS C 8912, and ASTM E 927-05所规定的A级标准，有这三个机构的A级证书 * 9．太阳光模拟器参比电池符合NIST认证，NREL可追溯，有相关的证书。 测量范围：0-3.5个太阳数；精度：好于等于±0.1% @ 1.0000 Sun @ 23 oC 分辨率：0.0001 Sun @ 0 – 1.9500 Sun (Low Display Range)
0.001 Sun @ 1.900 – 3.500 Sun (High Display Range) 2． QE测试系统参数要求：1.直流测试系统 2．测量范围200nm-1100nm， 3．校准过得SI探测器，.探测面积10х10mm; *4．提供300W的研究级的氙灯光源，光源的输出功率可调。输出光斑尺寸：Φ33；光的波动<1%r.m.s 3．双光栅以上的全自动单色仪，分辨率好于0.5纳米，杂散光小于0.03% *4. 整体光路模块化的设计，方便的机械集成，便于以后的升级 5．软件实现对单色仪和电流功率测试表的全自动控制以及QE数据处理 6．功率计：要求双通道的功率计，可测量样品电池和参比电池功率和输出电流；测量准确度：±0.2%； 测量分辨率：好于满量程0.0004% 专家论证意见： 姓名 工作单位 技术职称 备注
高云 湖北大学 教授 技术专家
张兴旺 中国科学院北京半导体所 研究员 技术专家
梁长浩 中国科学院合肥固体物理所 研究员 技术专家
李庆奎 郑州大学 教授 技术专家
潘永建 河南郑大律师事务所 律师 法律专家
专家论证意见高云：该系统中太阳光模拟器符合，IEC、JISC、ASTM标准中A级光斑均匀度，光谱匹配度达到0.75-1.25，国产模拟器只能达到0.6-0.7左右；梁长浩：参比电池复合NIST认证，测量范围0-3.5个太阳数，精度大于等于0.1%（1.0sun）@23℃；张兴旺：该系统中提供300W的研究级的氙灯光源，输出光的波动<1%r.m.s，国产设备光波动大于1%r.m.s； 李庆奎：双光栅以上的全自动单色仪，分辨率好于0.5纳米，杂散光小于0.03%整体光路模块化的设计，方便的机械集成，便于以后的升级；潘永建该产品不属于国家限制进口产品，符合产业政策，符合相关法律法规。