招标书13224--CCD & CMOS成像评价系统

各公司、厂商：

上海理工大学光电学院根据科研项目与实验室建设需要，定制CCD& CMOS成像评价系统一套。现在网上公开招标，欢迎有关单位参与投标。

一、 项目名称

CCD& CMOS成像评价系统

二、 项目概述

定制一套完整的CCD& CMOS成像评价系统。能够对CCD&CMOS传感元件及基于CCD或CMOS传感元件的光电探测器的特征参数进行自动检测。测试系统的测量参数及测试方案符合中国GJB5968-2007、欧洲标准EMVA1288。

三、 技术要求

1. 宽光谱光源：

1) 光谱范围： 190 nm≤ 光谱范围 ≤1100nm

2) 功率≥150W，配备除臭氧系统

2. 单色光谱仪

1) 多级单色仪，狭缝自动连续可调

2) 光谱范围： 190 nm≤ 光谱范围 ≤1100nm

3) 配自动滤色片轮，光阑轮；信噪比优于2000:1（水的拉曼峰）

4) 波长准确度：±1nm；波长重复性：±0.5nm

3. 均匀光源：

1) 辐射均匀性≥99%

2) 辐射功率0-100%连续可调

4. 标准探测器

1) 硅探测器，φ≥10mm

2) 探测范围：短波≤190nm，长波≥1000nm，波长间隔1nm。

3) 由中国计量院提供标定，或可追溯美国NIST标准

4) 皮安表：性能不低于keithley6485型；附校准报告

5. 图像采集卡：不低于NI PCIe-1429；

6. 直流稳压电源：性能不低于GW Instek，GPS-3303C

7. 三维移动平台：定位准确，手动或者自动控制

8. 暗室

1) 样品舱和光源、光谱仪隔离，避免光源对测试影响；黑色涂层隔离环境杂散光；通光孔有可拆卸的防尘保护窗

2) 样品舱配备单独打开的舱门，方便样品的取放。

9. 工控机

1) 不低于Core 2 Duo Processor，4Gb RAM，DVD，FPD；英文或简体中文Winows7正版系统

2) 配备工业标准接口：IEEE1394，并行数字，Camera Link，以太网接口，USB

10. 需提供标准的参量定义、测试依据（测试标准文件）及完整的测试方案

11. 可测量的传感元件CCD & CMOS的特性参数及具体测量指标如下：

1) 量子效率（由CCD反射率软件可计算得到內量子效率和外量子效率）

2) 响应度：v/（J/cm2）

3) 光谱响应范围：190nm-1000nm

4) 光电响应动态范围

5) 光电响应不均匀度

6) 光电响应线性度

7) 暗输出不均匀性

8) 系统增益

9) 暗电流、暗噪声

10) 饱和度

12. 测控软件

1) 基于VC或LabVIEW语言，提供可二次开发的程序源代码（含具体测量指标的测控代码）并附详细函数说明。

2) 测控软件具备可扩展和定制能力，供应商在保修期内根据使用人需求免费修改及升级程序。在硬件允许范围内，测试系统软件有升级优化情况下主动由供应商提供免费升级服务。

3) 测试过程（含校准、标定、数据处理、格式保存和导出）自动化。

四、其它相关要求

1、交货期：合同签订后30天以内。

2、投标方需提供基于投标设备得到的需方样品的测试结果。

3、预验收：合同中供应商需提供预验收服务，并明确无法通过预验收时双方需承担的责任。

2、安装调试：卖方负责将货物送达到买方指定地点，在买方现场安装、调试系统、并交付使用。

3、验收标准和方法：在买方现场安装调试完毕后，10个工作日内组织验收，具体验收内容包含CCD和CMOS芯片的测量指标（具体验收方法在合同内明确），卖方制作验收备忘录，买方签署验收意见。

4、技术服务及培训：对买方操作人员进行免费培训和操作指导，提供随同设备操作使用说明书和电子文档。

5、质量保证和售后服务要求：验收后24个月内免费保修，在保修期内，任何由制造商选材、设计及制造不当引起的质量问题，厂家负责免费维修或者更换。出现故障报修后24小时内到达现场，48小时内排除故障。对无法现场修复的故障，供应商负责提供备用设备并将产品运回厂家修理，由维修产生的一切费用由卖方负担。保修期后产品出现故障，如需更换零部件，使用者只负担产品维修本身发生的零部件更换费用，且该费用不能超出当时市场价范围。正常的耗材损耗不在保修范围之内。

技术负责人：陶春先 电话：137*****443

　　招标截止时间：2013年8月16日上午11:00（标书一式二份必须封存并注明招标号）

　　标书请寄：上海市军工路516号上海理工大学公共服务中心102室设备科

　　邮 编： 200093

　　联系人：缪老师

联系电话：********

上海理工大学设备招标领导小组

2013年8月8日