激光器芯片老化箱、测试设备国际招标公告(1)-0613-214022196322
激光器芯片老化箱、测试设备国际招标公告(1)-0613-214022196322
序号 | 产品名称 | 数量 | 简要技术规格 | 备注 |
1 | LD TO高温高湿老化箱 | 1 | 用于LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析,筛选后有效提高TO产品的质量。 | |
2 | LD TO 常高温测试机台 | 1 | 适用于VCSEL/FP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自动测试 | |
3 | LD TO 三温测试机台 | 1 | 支持TO工业级低温、常温、高温测试,适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试 | |
4 | BAR条测试机 | 1 | 自动化上下料 支持Bar的前光、背光LIV同步测试 |
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