薄膜厚度测量的反射膜厚仪（JJ20220183）采购公告
薄膜厚度测量的反射膜厚仪（JJ20220183）采购公告
| 项目名称 | 薄膜厚度测量的反射膜厚仪 | 项目编号 | JJ20220183 |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 1646809327000 | 公告截止日期 | 1647248400000 |
| 采购单位 | 重庆大学 | 付款方式 | 货到付款 |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 无 | 到货时间要求 | 合同签订3个工作日内 |
| 预 算 | 无 | ||
| 收货地址 | 重庆大学虎溪校区 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 反射膜厚仪 | 1 | 台 | 其他特种设备 |
| 品牌 | 武汉颐光科技 |
|---|---|
| 型号 | SR-C |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | 无 |
| 技术参数及配置要求 | 1)基本功能：获取薄膜厚度值以及R、N/K等光谱2)光谱分析范围：380nm-1050nm3)测量光斑大小：<1.5mm4)膜厚重复性测量精度：0.05nm（500nm 硅基SiO2样件，30次重复测量）5)膜厚绝对精度：0.2%或2nm之间较大者6)膜厚测量范围：15nm-70μm7)测量n和k值厚度要求：100纳米以上8)单点测量时间：≤ 1s 9)光源：高性能进口标准卤灯光源10)色坐标测量功能：可实现光谱CIE-L*a*b* 色坐标测量11)分析软件：多达数百种的光学材料常数数据库，并支持用户自定义光学材料库；提供多层各向同性光学薄膜建模仿真与分析功能 |
| 售后服务 | 电话支持:5x24小时;质保期限:1年;商品承诺:原厂全新未拆封正品;发票类型:增值税专用发票;1)整机硬件质保期为12个月。在质保期内出现各类故障供方及时免费维修，对非人为造成的各类零件损坏，及时免费更换2)测控与分析软件：终身免费升级，数据分析软件提供不限量拷贝3)为用户提供全面充分仪器操作与数据分析培训4)提供12个月免费数据建模与分析技术支持，免费期为用户提供不限量样件材料光学常数标定与模型库升级服务5)供方在接到故障报修信息后，供方维修人员12小时内电话响应，最晚48小时内供方服务工程师进行上门服务维修; |
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