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技术规格及参数

对115—2100nm宽谱段的光谱测量系统中探测器种类和光源种类较多的特点，设计集成光路系统，并对光路进行模拟，分析光路中器件对像差的贡献，以此为依据给出对光学器件参数的详细需求。在光路对准方面，给出详细的对准方法和检测判据，具有可操作性。确保能够在全谱段达到空间分辨率好于5微米，测量范围小于100微米的系统指标.协助项目组顺利推进光学远场输运性能测量系统建设，确保单点测量耗时小于1秒，测量误差小于10%。

售后及质保要求

乙方承诺，无论保修期内、外，在接到用户和系统相关的技术问题，8小时内响应，如有必要，在72小时内派工程师到达现场，提供技术服务。售后服务要求：乙方提供至少1年的保修服务，保修期自项目验收签字之日起计算。

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技术规格及参数

基于热传导方程和薄膜光学原理，针对热力学参数测量系统的光学测量进行理论分析，给出理论预测的对测量热力学参数灵敏度最高的光学测量方式。对相关光路进行分析，在杂散光控制和高速光电信号获取/处理方面采取必要技术手段以提高光强测量的信噪比，从而达到系统对热力学参数测量的指标要求。协助项目组顺利推进热力学参数测量系统建设。确保单点测量耗时小于1秒，测量误差小于10%。

售后及质保要求

乙方承诺，无论保修期内、外，在接到用户和系统相关的技术问题，8小时内响应，如有必要，在72小时内派工程师到达现场，提供技术服务。售后服务要求：乙方提供至少1年的保修服务，保修期自项目验收签字之日起计算。

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技术规格及参数

微区磁光克尔系统是可覆盖真空紫外波段到近红外波段的宽谱椭圆偏振光谱测量系统，在如此宽谱段实现偏振态测量具有相当大的挑战性。尤其是在其中的紫外波段，由于材料的限制，偏振器件的性能不理想。从理论上分析相关偏振器件的设计和其可能达到的最优性能；给出在现有偏振器件性能约束下，采用硬件校准和数据处理的方法使能达到的偏振测量精度在全光谱段紫外-可见-近红外波段都满足测量指标要求，其中空间分辨率好于100微米，测量精度小于10%；使用反射式器件设计光路并采取必要技术手段对其像差进行控制，协助项目组顺利推进微区磁光克尔系统建设。

售后及质保要求

乙方承诺，无论保修期内、外，在接到用户和系统相关的技术问题，8小时内响应，如有必要，在72小时内派工程师到达现场，提供技术服务。售后服务要求：乙方提供至少1年的保修服务，保修期自项目验收签字之日起计算。