顺德中山大学卡内基梅隆大学国际联合研究院微观断差量测仪设备招标公告
顺德中山大学卡内基梅隆大学国际联合研究院微观断差量测仪设备招标公告
序号 | 型号 | 描述 | 数量 |
1 | DEKTAK XT | DektakXT表面轮廓测量主机;自动台阶检测功能特点:自动水平调整,自动检测台阶,自动测量台阶高度和多重台阶数据综合对比;提供Microform software 软件;包括操作/维护手册和工具包 | 1台 |
2 | DXT-2D STRESS | 应力测试软件 | 1个 |
3 | D150-220V-EU | 两相 220-240V, 50-60 HZ 电源线 | 1根 |
4 | D150-ENC | 保护罩 | 1个 |
5 | DK-STYL-2UM-B | LIS 3 B性探针,半径2微米,红/白色 | 1条 |
6 | CAL-1UM | 1微米标准校准模块,含VLSI校正证书 | 1块 |
7 | D150-MONITOR | 23LCD显示器(国内采购) | 1个 |
2.配置详细描述:
产品型号 | 性能描述 | 数量 |
DEKTAK-XT | 最大扫描长度≥55mm; 测试所允许的最大样品高度≥50mm; 垂直方向的扫描范围≥1000μm; ★测试高度方向的重复性≤0.4nm(5μm以下的标准台阶); 测试垂直分辨率≤0.1nm; 光学系统:彩色CCD 180x放大倍率; XY移动载物台,X≥100mm行程,Y≥100mm行程;可无需移动或旋转样品,直接满足4英寸范围的全点测量; ★探针压力:能精确控制探针压力,保证在不同力下不破坏样品。探针压力1mg-15mg,以1mg间隔软件编程控制,更能一键自动校准; 多次扫描分析≥30次; 采用成熟的LVDT传感器,仪器稳定性高,数据重复性和可靠性好; 单次扫描最大采样点数120,000; 标配有自动更换探针附件工具,而不是固定在设备主机上,探针更换方便,安全,更换完探针后更能快速重新校准探针针尖位置; 仪器配有环境保护罩,防止静电环境影响; 薄膜应力测量功能; ★测试高度方向的重复性≤0.5nm(1微米的标准台阶); 提供1umVLSI标准样品用于校准,同各个国家和地区的顶级计量部门完全相同的校准样品; 提供专用分析软件并终身免费升级; 计算机配置,最新64位操作系统,240GB硬盘及以上,4G内存及以上,23寸显示器,保证数据处理的流畅。 | 1 |
五、供应商资格条件:
1.供应商需满足《政府采购法》第二十二条规定的条件,且具备独立法人资格。
2.供货商如非所报设备的制造商,必须为制造商在国内的唯一总代理商。
3.本项目不接受联合体参加报价。
六、报名联系方式
1.联系人:郑先生
2.电话:****-********
3.传真:****-********
4.地址:广东省佛山市顺德区大良街道办南国东路9号
广东顺德中山大学卡内基梅隆大学国际联合研究院
2014年12月19日
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