精密原子力显微镜采购（XF-WSBX-2200830）采购公告
精密原子力显微镜采购（XF-WSBX-2200830）采购公告
| 项目名称 | 精密原子力显微镜采购 | 项目编号 | XF-WSBX-******* |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 166*****94000 | 公告截止日期 | 167*****00000 |
| 采购单位 | 浙江大学 | 付款方式 | 货到付款，甲方在到货验收后15日内向乙方一次性支付本项目的总额 |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后7天 | 到货时间要求 | 成交后45天 |
| 预 算 | ******.0 | ||
| 收货地址 | 浙江杭州余杭塘路866号浙江大学紫金港校区东四教学楼 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 精密原子力显微镜 | 1 | 台 | 其他特种设备 |
| 品牌 | Nanosurf |
|---|---|
| 型号 | NaioAFM |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | ******.0 |
| 技术参数及配置要求 | 一、总体要求原子力显微镜主要用来测试样品表面的微观表面形貌特征，主要用来材料表面微观形貌分析、粗糙度计算、颗粒大小分析、高度与宽度分析、横截面分析和三维成像功能，并具备如磁学、电学等其他物理量测量功能。二、设备规格及技术参数1. 设备主要测量功能要求：1.1 静态力模式；1.2 动态力模式；1.3 相位模式；1.4 纳米刻蚀模式；1.5 力调制模式；1.6 扩展电阻模式；1.7 谱线测量模式.2. 设备配置要求：设备主机1套 ，主要包括以下几个方面：2.1 原子力显微镜测量头：1套；2.2 原子力显微镜控制器：1套；2.3 样品台：1套；2.4 微米移动台：1套；2.5 隔音罩： 1套。2.6 工具盒：1套。2.7 测量与分析软件：1套。2.8 计算机与显示器：1套；3. 设备主要技术参数要求：3.1测量头：3.1.1 扫描方式：针尖扫描，扫描过程中样品不动；3.1.2 扫描范围：XY方向70μm×70μm，Z方向14μm。3.1.3Z向噪音水平＜0.3nm 。3.1.4 逼近方式：马达自动控制逼近。3.1.5 探针底座自带定位结构，更换探针后自动对准，无需调节激光。3.2辅助光学系统：3.2.1 顶视与侧视双光学辅助光学系统；3.2.2 顶视配置五百万像素相机，视场大小1.5mm×1.0mm，光学分辨率2μm；3.2.3 侧视配置一百三十万像素相机，视场大小2.0mm×2.0mm。3.2.4 白光LED照明，软件可直接调节照明亮度。3.2.5 顶视与侧视图像可以同时在软件上显示。3.3样品台：3.3.1 样品尺寸：可放样品尺寸直径12mm；3.3.2 样品台移动XY行程12mmx12mm。3.4锁相放大器：3.4.1 标准带宽500kHz；3.4.2 配置5MHz频率扩展模块；3.4.3 频率分辨率1μHz；3.4.4 相位分辨率10μdeg；3.4.5 配置多解调器功能；3.5 隔震系统：设备自带阻尼防震，有效屏蔽外界振动对设备工作时的影响；3.6 配置气流屏蔽罩；3.7 配置标准样品一块；3.8 配置探针20根；3.9 测量与分析软件：3.9.1 采用计算机程序控制，基于Windows操作系统的专用控制与分析软件。3.9.2 用户界面友好，可实时设置扫描并优化参数，软件可控制测量头逼近、扫描等。3.9.3 可实时对测量数据进行不同方法的拉平操作与线性、二维或三维显示。3.9.4 可分析测量数据的粗糙度、测量三维尺寸、滤波处理等功能。3.9.5 提供主流商用台式机算机一台，屏幕尺寸不小于23英寸，方便使用者对数据、图谱的分析和处理。 |
| 售后服务 | 服务网点:当地;电话支持:7x24小时;质保期:2;服务时限:报修后4小时;销售资质:协议供货商;商品承诺:原厂全新未拆封正品; |
标签: 原子力显微镜
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