深圳市国微电子股份有限公司关于集成电路环境及寿命试验设备采购的招标公告

招 标 正 文
 

深圳市国微电子股份有限公司关于集成电路环境及寿命试验设备采购的招标公告

深圳市国微电子股份有限公司关于集成电路环境及寿命试验设备采购的招标公告
招标编号：SZGW12009
1、深圳市国微电子股份有限公司的和“32位高性能微处理器研发及产业化”项目，已由深圳市发展改革与委员会比准建设。现决定对该项目的集成电路环境及寿命试验设备进行公开招标。
2、本次招标项目的概况如下：
2.1本项目此次招标具体内容列表：
A标段招标内容：

序号

名称

参考型号

数量

备注

1

高低温试验冲击箱

VT37006S2

1台


高低温试验冲击箱的主要技术要求：
a、使用380伏交变电流，50赫兹，额定功率≤10KW，重量≤,1000KG；
b、温度要求：高温≥200℃，升温速率≥10℃/min；低温≤-70℃，降温速率≥4℃/min；
c、温度波动≤1℃，温度偏差≤2℃，高低温转换时间≤1min，能加电动态冲击；
3，递送截止时间：2012年9月30日下午17：00。
4，联系方式：
技术答疑人：谌祖伟
联系电话：****-********
邮 箱：zwchen@ssmec.com

深圳市国微电子股份有限公司

2012-09-01


联系人：郝工
电话：010-68960698
邮箱：1049263697@qq.com

标签: 微电子 集成电路

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