光栅投影成像过程影响机理及模型设计
光栅投影成像过程影响机理及模型设计
一、采购清单
可靠性/测试性/维修性
二、主要内容
标题: | 光栅投影成像过程影响机理及模型设计 | ||
场次号: | XJ023*****0371 | ||
发布时间: | 2023-11-06 17:57:40 | 参与方式: | 非定向询价 |
出价方式: | 一次性出价 | 发布单位: | 北京航天计量测试技术研究所 |
最终用户: | 北京航天计量测试技术研究所 | 操作员: | 朱晓豫 |
联系人: | 高越 | 联系方式: | 136*****612 |
付款方式: | 预付款 | 附件: | 详见航天电子采购平台 |
备注: |
供应商 | 产品名称 | 型号 | 规格 | 是否国产 | 标准 | 质量等级 | 封装形式 | 产品批次 | 备注 | 成交数量 | 最新报价(单价) | 成交总价 | 到货日期 | 到站地点 |
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河北工业大学 | 光栅投影图像成像过程影响机理与模型设计 | / | 光栅投影测量中拍摄图像成像过程影响机理与模型设计 | 是 | / | 1.000套 | ******.00元 | ******.00元 | 2023-11-30 00:00:00 | 北京 | ||||
天津工业大学 | 光栅投影图像成像过程影响机理与模型设计 | / | 光栅投影测量中拍摄图像成像过程影响机理与模型设计 | 是 | / | 套 | ******.00元 | 元 | 2023-11-30 00:00:00 | 北京 | ||||
天津大学 | 光栅投影图像成像过程影响机理与模型设计 | / | 光栅投影测量中拍摄图像成像过程影响机理与模型设计 | 是 | / | 套 | ******.00元 | 元 | 2023-11-30 00:00:00 | 北京 | ||||
河北工业大学 | 大纵深成像离焦对测量精度影响及抑制方法 | / | 光栅投影测量系统中大纵深成像离焦对测量影响及抑制方法 | 是 | / | 1.000套 | ******.00元 | ******.00元 | 2023-11-30 00:00:00 | 北京 | ||||
天津工业大学 | 大纵深成像离焦对测量精度影响及抑制方法 | / | 光栅投影测量系统中大纵深成像离焦对测量影响及抑制方法 | 是 | / | 套 | ******.00元 | 元 | 2023-11-30 00:00:00 | 北京 | ||||
天津大学 | 大纵深成像离焦对测量精度影响及抑制方法 | / | 光栅投影测量系统中大纵深成像离焦对测量影响及抑制方法 | 是 | / | 套 | ******.00元 | 元 | 2023-11-30 00:00:00 | 北京 |
三、响应方式
有意参加本项目的企业,请与本公告截止时间之前登录航天电子采购平台(www.ispacechina.com)与该项目采购人员联系。按照采购单位要求在提交截纸时间前提交询价响应文件,未按要求提交的视为无效响应。
公告截至日期2023-11-13
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