混合集成电路老化实验1批1816套
混合集成电路老化实验1批1816套
一、采购清单
可靠性/测试性/维修性
二、主要内容
| 标题： | 混合集成电路老化实验1批1816套 | ||
| 场次号： | XJ023*****0881 | 询价开始时间： | 2023-12-05 15:10:42 |
| 询价结束时间： | 2023-12-12 15:10:42 | 参与方式： | 非定向询价 |
| 出价方式： | 一次性出价 | 发布单位： | 西安微电子技术研究所 |
| 最终用户： | 西安微电子技术研究所 | 操作员： | 杨若男 |
| 联系人： | 程若涛 | 联系方式： | 029-********-6235 |
| 付款方式： | 附件： | 详见航天电子采购平台 | |
| 备注： | 1.所内合格供方；2.现场取样件；3.具备相关资质，具体与采购人员联系；4.具备集成电路测试筛选能力且产能充足 | ||
| 产品名称 | 产品标准 | 型号 | 规格 | 质量等级 | 封装形式 | 产品批次 | 备注 | 采购数量 | 最少供应量 | 到货日期 |
| 混合集成电路 | / | / | / | 1816.0套 | 1816.0套 |
三、响应方式
有意参加本项目的企业，请与本公告截止时间之前登录航天电子采购平台（www.ispacechina.com）与该项目采购人员联系。按照采购单位要求在提交截纸时间前提交询价响应文件，未按要求提交的视为无效响应。
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