膜片刻痕剩余厚度自动精密测量系统
膜片刻痕剩余厚度自动精密测量系统
一、采购清单
动力与传动
二、主要内容
| 标题： | 膜片刻痕剩余厚度自动精密测量系统 | ||
| 场次号： | XJ024*****0871 | 询价开始时间： | 2024-05-07 17:30:00 |
| 询价结束时间： | 2024-05-21 18:00:00 | 参与方式： | 定向询价 |
| 出价方式： | 一次性出价 | 操作员： | 陈铮夏 |
| 联系人： | 陈先生 | 联系方式： | 029-******** |
| 付款方式： | 附件： | 详见航天电子采购平台 | |
| 备注： | |||
| 产品名称 | 产品标准 | 型号 | 规格 | 质量等级 | 封装形式 | 产品批次 | 备注 | 采购数量 | 最少供应量 | 到货日期 |
| 膜片刻痕剩余厚度自动精密测量系统 | 相关标准 | 膜片刻痕剩余厚度自动精密测量系统 | 膜片刻痕剩余厚度自动精密测量系统 | 1.0套 | 1.0套 |
三、响应方式
有意参加本项目的企业，请与本公告截止时间之前登录航天电子采购平台（www.ispacechina.com）与该项目采购人员联系。按照采购单位要求在提交截纸时间前提交询价响应文件，未按要求提交的视为无效响应。
标签: 精密测量
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