序号

设备名称

技术参数与配置要求（参考）

数量

1

多角度纳米粒度与Zeta电位分析仪

技术参数:

仪器主要性能：

1.1 光源：固体或气体激光器，功率≥10mw；

1.2 检测器：高灵敏度雪崩光电二极管检测器（APD）；

1.3 温度范围：≤0 ~ ≥70 °C；

1.4 粘度测量；

1.5荧光过滤装置

2. 粒径测量技术指标

2.1 测量范围：0.4nm ~ 10 μm

2.2 测量重复性：1%

2.3 检测角度：不少于2个检测角度 ，其中一角度为背散射角

2.4 样品浓度：0.1 ppm ~ 40% w/v

2.5 样品池体积：≤3mL

2.6 微流变性质测量

3. Zeta电位测量

3.1 适用颗粒尺寸范围: 1 nm ~ 100 μm

3.2 电导率范围：0 ~≥150 mS/cm

4. 分子量测量

4.1测量范围: 1×103 ~ 2×107 Da

配置要求：

1. 纳米粒度与Zeta电位分析仪主机一台及相关分析软件一套

2. 耐腐蚀耐有机溶剂插入式电极一只

3. 微流变附件及相关分析软件一套

4. 自动滴定仪及相关分析软件一套

5. 粘度测量附件及相关分析软件一套

6. 荧光过滤装置一套

7. 标准样品池200只

8. 石英样品池20只

9. 粒度/Zeta电位标样一套

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2

激光纳米颗粒分析仪

技术参数：

1. 粒径检测范围：10 – 2000 nm

2. 浓度检测范围：107 – 109 个/ml

3. 光源和检测模块：增强型激光模块

4. 激光光源，488nm

5. 温控范围：低于室温5度 - 55°C

6. 温控准确性： 1°C 以内

7. 提供平均粒径和分布宽度参数

8. 提供颗粒浓度信息

9. 提供粒径-数量分布，粒径-数量-光强三维分布曲线

配置要求：

1.检测主机1台，配套样品槽1件。

2. 配套分析软件一套。

3. 配套计算机一台，液晶显示器至少21英寸，内存8G，酷睿i5处理器，可运行配套的分析软件。

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