对某材料检测钝化层界面状态
对某材料检测钝化层界面状态
| 商品名称 | 品类 | 采购数量 | 最少响应量 | 要求 | 依据 | 货期 |
| 检测钝化层与某材料界面状态 | 服务类 | 10.0次 | 1.0次 | 采用球差矫正透射电子显微镜(TEM)观察钝化薄膜和材料原子级界面状态，以此来分析不同钝化条件和流片阶段下在界面处的钝化成膜质量以及相关工艺带来的微观位错; | 检验与测试标准参考国家质检总局提供的GB/T *****-2002透射电子显微镜选区电子衍射分析方法;以及KS D 8544-2016金属镀层镀层厚度测量镀层透射电镜法; | 根据我方要求 |
标签: 材料检测
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