半导体集成电路型抗辐照40位SRAM质量一致性、失效分析试验招标公告
半导体集成电路型抗辐照40位SRAM质量一致性、失效分析试验招标公告
| 半导体集成电路XY8R1M40型抗辐照40位SRAM质量一致性、失效分析试验询价公告 | |
|---|---|
| 场次号/项目编号 | 询比采购 |
| 场次名称 | XJ025*****0555 |
| 商品分类 | 半导体集成电路XY8R1M40型抗辐照40位SRAM质量一致性、失效分析试验 |
| 采购单位 | 商品采购 |
| 报价有效期 | 4天 |
信息来源：025*****0555&typ=1">https://td.ispacechina.com/xjInfo.do?fphm=XJ025*****0555&typ=1
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