调制偏振光相位延迟波片测量实验装置招标公告
调制偏振光相位延迟波片测量实验装置招标公告
基本信息: | |
申购单主题: | 调制偏振光相位延迟波片测量实验装置 |
申购单类型: | 竞价类 |
设备类别: | 专用设备 |
使用币种: | 人民币 |
竞价开始时间: | 2017-04-19 15:44 |
竞价结束时间: | 2017-04-24 08:59 我要报价 |
申购备注: | |
申购设备详情: |
设备名称 | 数量 | 单位 | 品牌厂商 | 型号 | 是否标配 | 售后服务 | 规格配置 | 附件 |
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调制偏振光相位延迟波片测量实验装置 | 1 | 台 | 大恒光电 | GCS-XW | 否 | 按行业标准提供服务 | (1)光源:半导体激光器450nm,出光功率大于20mW;半导体激光器520nm,功率大于20mW;氦氖激光器632.8nm;(2)索列尔-巴比涅相位补偿器适用波长:400~1000nm;调整相位范围:0~2π;通光口径:10mm;相位精度:λ/300;相位稳定性:λ/400;测微丝杆位移精度:0.001mm,测微丝杆位移行程: 25mm度盘精度:2′度盘旋转范围: 360°;(3)光电探测器:探测器类型Si,可测波长500-900nm,灵敏度0.33mV/uW;(4)电光调制器组件:KD*P晶体调制器,环形电极,最小分辨率0.001uW,调制频率2KHz;(5)偏振片:Φ25.4mm,通光孔径22mm,厚度2mm,波长范围400-700nm;视场角>±45°,入射光为平行偏振光时单个偏振片透过率大于50%,消光比500:1,含镜架;(6)波片:石英晶体材料,λ=632.8nm,Φ25.4mm,厚度1mm±0.1,延迟精度λ/100;(7)精密机械调整架:角度精度±4′,分辨率0.005mm,调节机构保证等双轴等高,横向偏差1′,纵向偏差1′;(8)光学元件:BK7 A级精密退火材料,焦距±2%,直径-0.2mm,中心偏差3′,光圈1-5;局部误差0.2-0.5,面粗糙度60/40(Scratch/Dig),氟化镁增透膜镀膜,有效孔径90%。 | 无 |
标签: 西安交通大学
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