纳米晶体材料粒径测试系统招标公告
纳米晶体材料粒径测试系统招标公告
| 基本信息： | |
| 申购单主题： | 纳米晶体材料粒径测试系统 |
| 申购单类型： | 竞价类 |
| 设备类别： | 电子设备 |
| 使用币种： | 人民币 |
| 竞价开始时间： | 2017-07-21 17:22 |
| 竞价结束时间： | 2017-07-26 18:00 我要报价 |
| 申购备注： | CIP南方科技大学，报价包括免税手续费、代理费等货物送至学校指定地点的一切费用。仪器总价最低者中标。合同生效并收到相应发票后支付合同总额的30%作为进度款；设备到达指定安装现场且安装、调试验收合格后支付合同总额的65%；余款5%待质保期满（12个月），且未发现乙方有违反售后服务承诺或质量问题的前提下，由甲方全部无息支付给乙方。 设备保修期12个月。 |
| 申购设备详情： |
| 设备名称 | 数量 | 单位 | 品牌厂商 | 型号 | 是否标配 | 售后服务 | 规格配置 | 附件 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 纳米晶体材料粒径测试系统 | 1 | 套 | 马尔文仪器 | Zetasizer Nano ZSE | 否 | 按行业标准提供服务 | 一、粒度测量：1.粒度测量范围：0.3nm-10um；2.▲采用非浸入式背反射技术；3.最小样品量：12?l；4.▲激光器：632.8nm，He-Ne激光;5.样品浓度范围：0.1ppm- 40% w/v6.▲采用APD(雪崩式光电二极管)检测器；7.采用最新的高速数字相关器，>4000 通道，最小采样时间25纳秒;8.具有12个衰减器，衰减倍数1-300000倍9.▲测量粒径角度：175°和12.8°，双角度；10.温度范围：0?C to 90?C，精度：±0.1℃，可以测量粒度随温度变化的趋势图11.▲仪器通过整体移动透镜及光纤，根据样品浓度自动确定最佳测试点；12.可以测量蛋白质和聚合物的第2维里系数13.可以测量蛋白质的熔点14.可以加载荧光过滤片二．ZETA电位测量1．可测量ZETA电位的样品粒径范围：3.8纳米-100微米2．▲采用快频电场与慢频电场混合相位分析技术，可以测量ZETA电位的分布3．最大样品电导率：200mS/cm4．最大样品浓度：40%w/v5．最高可测量2M的盐浓度体系6．采用固定式内置电极U型管式流动池7．最小样品量150ul三、软件功能：1、SOP标准操作程序设置，提供中文操作手册；2、专家诊断程序，为每一个测试提供质量诊断，并给出有关样品改进建意；3、具备用户报告设计器功能，定制您需要的报告格式，选择各种所需要的参数；四、配置：1、纳米粒度及Zeta电位仪主机一台；2、二个石英玻璃粒度测量样品池；3、100个PS样品池；4、30套带内置电极的U型样品池。5、Zeta电位标准液一支；7、输入输出终端一台。 | 无 |
|
招标
|
- 关注我们可获得更多采购需求 |
关注 |
最近搜索
无
热门搜索
无
