激光椭偏仪招标公告
激光椭偏仪招标公告
基本信息: | |
申购单主题: | 激光椭偏仪 |
申购单类型: | 竞价类 |
设备类别: | 仪器设备 |
使用币种: | 欧元 |
竞价开始时间: | 2017-09-26 15:21 |
竞价结束时间: | 2017-10-09 00:00 我要报价 |
申购备注: | (1)交货口岸、期限及安装要求:CIP长春机场。 乙方在甲方开具100%信用证后90日内发货,并按中标要求免费完成安装、调试及培训等,直至交付使用。 (2)付款方式:100%L/C 。 (3)质保期:验收合格后质保12个月。(4)签订合同时中标单位需提供厂家对本项目的的授权书盖章原件。 |
申购设备详情: |
设备名称 | 数量 | 单位 | 品牌 | 型号 | 是否标配 | 售后服务 | 规格配置 | 附件 |
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激光椭偏仪 | 1 | 台 | SENTECH | SE400adv | 是 | 按行业标准提供服务 | 技术指标1、光源:氦氖激光(波长632.8nm)2、机械角度计,40°-90°,步进值5°,准确度:优于0.02°;3、带高度和倾斜度调节的固定样品载物台,直径200mm,适用于最大156mm x 156mm的晶体硅电池;4、用于多晶硅太阳能电池测量的水平样品载物台,带快锁装置;5、用于单晶硅太阳能电池测量的倾斜样品载物台,带真空吸附;6、用于多晶硅太阳能电池测量的光学汇聚件;7、自动准直透镜ACT和光学显微镜,用于精确的样品对准准直;8、软件控制起偏器(起偏器追踪模式),具有最高的测量准确度;9、配置补偿器,可在有补偿器/无补偿器两种测量方式下进行测量,可测量偏振因子、并进行退偏纠正;10、测量光斑:直径0.5mm;11、椭偏测量精度:Psi≤0.002°,Delta≤0.02°(入射角90°时30个测量数据的1 sigma标准偏差);12、标准片测量精度:膜厚≤0.01nm,折射率≤0.0005;13、标准片:4吋晶体硅上镀稳定的80nm厚度氮化硅膜。该标准包括晶圆片和测量证书,包括膜厚、折射率值。配件要求材料数据库:包括电介质, 弱吸收薄膜, 晶体和非晶半导体, 金属, 有机物,玻璃,石英和其他。 | 无 |
标签: 大学
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