激光椭偏仪招标公告

激光椭偏仪招标公告

基本信息:
申购单主题:激光椭偏仪
申购单类型:竞价类
设备类别:仪器设备
使用币种:欧元
竞价开始时间:2017-09-26 15:21
竞价结束时间:2017-10-09 00:00 我要报价
申购备注:(1)交货口岸、期限及安装要求:CIP长春机场。 乙方在甲方开具100%信用证后90日内发货,并按中标要求免费完成安装、调试及培训等,直至交付使用。 (2)付款方式:100%L/C 。 (3)质保期:验收合格后质保12个月。(4)签订合同时中标单位需提供厂家对本项目的的授权书盖章原件。
申购设备详情:

设备名称数量单位品牌型号是否标配售后服务规格配置附件
激光椭偏仪1SENTECHSE400adv按行业标准提供服务技术指标1、光源:氦氖激光(波长632.8nm)2、机械角度计,40°-90°,步进值5°,准确度:优于0.02°;3、带高度和倾斜度调节的固定样品载物台,直径200mm,适用于最大156mm x 156mm的晶体硅电池;4、用于多晶硅太阳能电池测量的水平样品载物台,带快锁装置;5、用于单晶硅太阳能电池测量的倾斜样品载物台,带真空吸附;6、用于多晶硅太阳能电池测量的光学汇聚件;7、自动准直透镜ACT和光学显微镜,用于精确的样品对准准直;8、软件控制起偏器(起偏器追踪模式),具有最高的测量准确度;9、配置补偿器,可在有补偿器/无补偿器两种测量方式下进行测量,可测量偏振因子、并进行退偏纠正;10、测量光斑:直径0.5mm;11、椭偏测量精度:Psi≤0.002°,Delta≤0.02°(入射角90°时30个测量数据的1 sigma标准偏差);12、标准片测量精度:膜厚≤0.01nm,折射率≤0.0005;13、标准片:4吋晶体硅上镀稳定的80nm厚度氮化硅膜。该标准包括晶圆片和测量证书,包括膜厚、折射率值。配件要求材料数据库:包括电介质, 弱吸收薄膜, 晶体和非晶半导体, 金属, 有机物,玻璃,石英和其他。



联系方式:400-838-0606

标签: 大学

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