高精度低漏电半导体测试数据采集单元招标公告
高精度低漏电半导体测试数据采集单元招标公告
| 基本信息： | |
| 申购单主题： | 高精度低漏电半导体测试数据采集单元 |
| 申购单类型： | 竞价类 |
| 设备类别： | 专用设备 |
| 使用币种： | 人民币 |
| 竞价开始时间： | 2017-12-01 15:35 |
| 竞价结束时间： | 2017-12-05 16:00 我要报价 |
| 申购备注： | 必须与精密半导体测试系统各种设备进行匹配作为升级单元，满足以上设备规格所有参数要求，软件需保证测试过程中的可靠性以及重复一致性。满足定制化测试功能要求，并可实现以后持续功能升级开发。 |
| 申购设备详情： |
| 设备名称 | 数量 | 单位 | 品牌 | 型号 | 是否标配 | 售后服务 | 规格配置 | 附件 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 高精度低漏电半导体测试数据采集单元 | 1 | 套 | 和创汇众 | H15ES | 否 | 具备完成对现有半导体在片系统的软/硬件的升级能力提供5年的软件升级维护，需定制化开发支持后续升级的直流和射频仪器测试功能。提供24小时响应的技术支持服务。上门进行技术支援（包含应用测试和软件升级调试） | 本数据采集单元为现有精密电学测试系统升级包，由高精密采集硬件和配套定制软件两部分构成；系统采集测量可达到测试数据分辨率100fA/100nV；最高电压可达210V，电流可达3A直流/10.5A脉冲，任意波形发生器和 20 μs 间隔的数字转化能力，4 象限电源和测量能力，4.3 英寸彩色显示屏支持图形和数字显示模式，配有 USB2.0、GPIB、LAN 和数字 I/O 接口；单元具备精密的防震技术确保测试稳定性和安全性；支持特定电学测量系统，如keysight或cascade直流和射频测试系统中多种SMU测试设备（含现有）。软件支持交互式手动操作或半自动晶圆探针台的自动操作；具备多种扫描测试功能（阶状、多通道、脉冲）、IV测试、CV测试、C-t/C-f测试、射频测试等；内置多种常用器件库，可由客户任意调用编辑完成快速设置测试；可进行高效并可重复的器件表征测试，并自动保存确保不会遗失重要的测试数据；具备测试图形显示和数据显示功能，并可导出数据进行分析；内置VEE编程环境，支持用户自定义测试。 | 无 |
标签: 大学
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