MEMS芯片集成化测试与分析系统单一来源采购前信息公示

一、采购项目名称：MEMS芯片集成化测试与分析系统

二、采购项目编号：NUST-2017-ZH-162

三、采购项目概况：本项目拟构建多功能MEMS芯片测试与分析系统，为非制冷红外焦平面阵列、硅基陀螺仪、加速度计芯片等微纳芯片的测试与分析提供充分的支持。可满足MEMS芯片形貌观测、静态测试、环境测试等多项需求。本项目需要使用集成度较高的集成测试平台，以方便完成传感器的多参数测试，该平台的搭建基于板卡级的测试仪器，具有集成度高、测试精度高、测试便捷度高等特点。

四、申请采用单一来源理由：本系统基于NI PXI平台搭建，PXI是一种坚固且基于PC的平台，适用于测量和自动化系统。PXI结合了PCI的电气总线特性与CompactPCI的模块化及Eurocard机械封装的特性，并增加了专门的同步总线和主要软件特性。PXI的高性能、低成本部署平台可用于多种领域，例如制造测试、军事和航空、机器监控、汽车和工业测试。PXI于1997年开发，并在1998年发布，其公开的工业标准由PXI系统联盟（PXISA）所管理。自1997年创立PXI标准并于1998年成立PXI系统联盟行业协会以来，NI一直为世界各地的工程师和科学家提供前沿的PXI技术及产品。 借助丰富全面的机箱、控制器、定时和同步功能以及600多个模块，即可应对几乎所有的工程挑战。

NI一直是全球测试、测量、控制解决方案的全球领导者，构建本系统所需要的高速数字化仪，动态信号分析仪等设备NI一直是业内的最高标准，其它同类设备与NI的测试设备相比存在差距，不能满足本系统的需要，因此申请本项目单一来源采购。

五、拟定供应商：

供应商名称：南京派格测控科技有限公司

公司地址：南京市建邺区嘉业国际城3幢1603室

六、公示期、联系方式：

公示期：3个工作日

招标办联系电话：********联系人：沈苏林

地址：江苏省南京市孝陵卫街200号南京理工大学综合办公楼（致远楼）5楼501室

邮编：210094

七、其他事项：

凡对公示内容有异议的，请在公示期内以实名书面（包括联系人、联系方式）形式将意见反馈至招投标办公室。

招投标办公室

2017年11月13日