电性能分析仪招标公告
电性能分析仪招标公告
| 基本信息： | |
| 申购单主题： | 电性能分析仪 |
| 申购单类型： | 竞价类 |
| 设备类别： | 电子设备 |
| 使用币种： | 人民币 |
| 竞价开始时间： | 2019-04-28 15:20 |
| 竞价结束时间： | 2019-05-01 13:00 我要报价 |
| 申购备注： | ********35 |
| 申购设备详情： |
| 设备名称 | 数量 | 单位 | 品牌 | 型号 | 是否标配 | 售后服务 | 规格配置 | 附件 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 电性能分析仪 | 1 | 台 | Keithley | 4200A-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。二性能和技术指标1*3个中功率直流IV测量单元1.1电流表测试量程/分辨率/精度电流源输出量程/分辨率/精度最小：100nA/100fA/30pA100nA/5pA/30pA *最大：105mA/100nA/3uA105mA/5uA/15uA1.2电压表测试量程/分辨率/精度电压源输出量程/分辨率/精度最小：200mV/1uV/100uV200mV/5uV/150uV*最大：210V/200uV/3mV 210V/5mV/15mV2*3个远端前置放大器2.1电流表测试量程/分辨率/精度电流源输出量程/分辨率/精度*最小：1pA/100aA/10fA1pA/1.5fA/40fA 3*1个CV测量单元3.1*不同频率下的C-V测试， 频率范围：不小于 1K-10MHz；3.2可测量Cp-G, Cp-D, Cs-D, R-jX, Z-theta等参数；3.3测试信号电平10mV rms – 100mV rms，分辨率1mV；3.4*直流偏置电压范围: ≥±30V； | 是 | 按行业标准提供服务 | 4要求主机具备计算机配置：LAN, GPIB, USB, RS-232, 串口, 硬盘，Windows 7以上操作系统。5*系统扩展性：半导体特性综合测试仪后面板具有不少于9个基于PCI总线的插槽，用于插入核心测量部件—SMU，插槽的设计采用竖型插入方式，这样可以最大程度地进行系统散热。6系统软件具有以下功能： 6.1Windows操作, 图形化界面, 全集成化，无需编制程序；6.2标准半导体器件参数测试库6.3纳米器件参数测试库6.4WLR可靠性参数测试库6.5*内置中英日韩多语教学视频6.6*具备四象限测试功能6.7内置clarius software软件，内置不少于450项应用测试。6.8软件最少支持以下测试项目：Id-Vg ，Id-Vd ，Ig-Vg，Vth ，Vtlin，Sub-Vt，Rds-on 击穿，电容，QSCV ,低频率CV ，Ic-Vc ，Vcast ,Gummel ，电容，Vth ，疲劳测试，电容。 | 无 |
标签: 大学
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