半导体测试仪器（第二次）招标公告
半导体测试仪器（第二次）招标公告
半导体测试仪器密封询价（第二次）
询（xj*******）号
各供应商：
我校现需一批设备决定采用密封询价方式进行采购，请供应商仔细阅读需求清单及询价注意事项，并提供一次性报价（不得更改）。
询价项目概况（内容、数量、简要技术要求等）：
序号 | 仪器名称 | 规格型号 | 数量 | 备注 |
1 | C-V测试仪 | 1、功能：用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压下的电容量，也可测试其他电容 2、主要技术参数： 试信号频率：1.000MHz±0.01%； 电容分辨率：0.01pF； 偏置电压分辨率：0.1V； 漏电流分辨率：0.01μA 供电电源：交流电压：220V±5%；频率： 50Hz±5%； 标配：夹具 要求：配件齐全，货到后即可使用 | 2 | |
2 | 单晶少子寿命测试仪 | 1、系统功能： 用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命，可测量包括电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等； 2、系统组成：稳压电源、高频源、检波放大器、InGaAsP/InP红外光源、样品台、示波器； 3、主要技术指标： 测试单晶电阻率范围：>2Ω﹒cm 可测单晶少子寿命范围：5μs~7000μs 光源类型：波长1.09μm；余辉<1μs；闪光频率20~30次/秒 高频振荡源：用石英振荡器，振荡频率30MHz 前置放大器：放大倍数25，频宽2Hz～1MHz 仪器重复误差：<±20% 测量方式：采用对标准曲线读书方式 仪器消耗功率：<25W 示波器：频宽0～20MHz；电压灵敏：10mV/cm； 标配：测试样品； 要求：配件齐全，货到后即可使用 | 2 |
2. 投标报价为投标方所能承受的一次性最低、最终报价，以人民币为结算币种，包括产品（含配件）购置费、运输费、保险、培训、安装调试费和税费等所有费用,即按招标方要求安装调试完毕的完工价格。
3. 成交供应商所提供的设备必须为厂家原装正规行货产品，并达到要求的性能规格，其质量及售后服务须符合国家规定的有关标准。供应商擅自变更或无故不提供中标产品，将按照《政府采购法》相关规定进行处罚。
4. 询价成交原则：符合采购需求、质量和服务相等且报价最低的原则确定成交商。
5. 付款方式：设备全部到货并经用户验收合格后一次性付清。
6. 请于2011年1月6日上午11：00之前将上述设备的最终报价，以信封密封（加盖公章）的形式交给浙江师范大学采购中心（新行政大楼北楼一楼116室），逾期作废。
7. 如对本次询价有疑问，可电话、传真或查阅采购中心网站形式进行联系：联系人：吴老师 电话：****-******** 传真：****-********
8. 注意：请在信封上分别注明询价编号、供应商联系人及电话。型号停产更改务必请报价前联系。
浙江师范大学采购中心
2010年12月6日
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