少子寿命测试仪招标公告

招 标 正 文
 

少子寿命测试仪招标公告


少子寿命测试仪（JLU-KC19147）采购公告
项目名称少子寿命测试仪项目编号JLU-KC19147
公告开始日期2019-06-19 15:35:00公告截止日期2019-06-22 17:00:00
采购单位吉林大学付款方式国产：货到验收合格办理相关手续后100%付款。
联系人中标后在我参与的项目中查看联系电话中标后在我参与的项目中查看
签约时间要求成交后30天到货时间要求国内合同签订后60天
预 算未公布
收货地址吉林大学
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

区域代理授权书(必选)


采购清单1
采购商品采购数量计量单位所属分类
少子寿命测试仪4台电工器材

品牌昆德
型号LT-2
技术参数及配置要求1.测试硅单晶电阻率范围：ρ﹥2Ω？㎝
测电子级参杂硅单晶片（厚度小于1mm）电阻率范围：ρ﹥0.1Ω.cm
2.可测材料：硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、硅块、硅片等
3.可测单晶少子寿命τ范围：5μs~10000μs
4.红外光源配置：波长1.06～1.09μm，红外光在硅单晶内穿透深度大于500μm。
闪光频率为：20～30次／秒
光脉冲关断时间：0.2-1μｓ，余辉＜1μｓ
脉冲电流：5A～20A
5.高频振荡源：用石英谐振器，振荡频率：30MHZ
6.前置放大器，放大倍数25，频宽2HZ-2MHZ
7.高频电极采用铟电极，铟可以减小半导体材料与金属电极间的接触电阻的优良材料而且有良好的抗腐蚀性能。
8.仪器测量重复误差：﹤±25%
9.显示方式：100M带宽，2通道加外触发通道机种，垂直分辨率8位、。1GSa/s的实时采样率、每通道10M点记录长度、7英寸WVGA（800x480）的高分辨率TFT LCD屏幕显示、垂直档位： 1mV~10V/br、余辉信号处理技术，快速观察真实波形。能同时显示幅度、时间和波形强度。水平时基：1ns/br~100s/br(1-2-5步进) ; ROLL : 100ms/br~100s/br、FFT超高分辨率，1M点可精确进行频域分析，甚至可进行频谱峰值搜索。
10.仪器消耗功率：﹤50 W
11.可测单晶尺寸：
断面竖测：直径25mm-150mm；厚度2mm-500mm
纵向卧测：直径5mm-150mm；长度50mm-800mm
售后服务服务网点:当地;电话支持:7x24小时;服务年限:一年;服务时限:报修后8小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品;质保期:一年;1、报价时必须上传生产厂家针对本项目的产品授权书和售后服务承诺书盖章扫描件。 2、中标后要求供应商持原厂家对项目产品授权书和厂家出具的售后服务承诺书原件备查。 3、明确保证其所供设备主机全新、正规来源设备。;

2019-06-19 15:35:00


联系人：郝工
电话：010-68960698
邮箱：1049263697@qq.com

标签: 测试仪

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