中央美术学院分析天平采购项目（GDC-****************2）网上竞价公告

公告日期： 2011-11-17 16:26:43
项目名称： 中央美术学院分析天平采购项目
项目编号： GDC-****************2
中央国家机关政府采购中心受采购单位 中央美术学院 委托,
对下列货物及服务进行网上电子政府采购,现邀请合格投标人进行网上投标。

采购项目信息

开始日期： 2011-11-17 16:26:43 采购单位： 中央美术学院
截止日期： 2011-11-25 16:26:43 联系人： 杜轶才
送货地点： 北京市朝阳区花家地南街8号 联系电话： ********
到货时间：

采购结果公告后 3 天内 联系邮件： guozichu@cafa.edu.cn
剩余时间： 7天22小时
备注信息：
资质要求： 1、供应商应为该产品的代理商或经销商，以附件形式上传相关资质证明； 2、原厂商提供服务；
需求附件： 没有附件

采购商品列表

商品分类 参考品牌 规格型号 单位 数量 基本描述
分析天平 梅特勒 MS205DU 台 1

中央美术学院分析天平采购项目
GDC-****************2
商品名称： 分析天平
参考品牌： 梅特勒
参考模型： MS205DU
商品产地： 中国
数量： 1
单位： 台
服务： 原厂商提供服务
备注： 1.功能用途 适用于实验室称量 2．工作环境 工作温度：5 ℃ -40℃ 电流：220V，50Hz 3.技术参数 3.1 最大称量值：220 g 3.2可读性： 0.01mg/0.1mg 3.3 重复性（sd）：0.08mg (200 g); 0.05 mg (80 g) 3.4 线性误差： 0.2 mg *3.5 采用世界领先的MonoBloc单模块称量传感器 *3.6动态图形显示（SMARTTRAC）直接显示天平已使用的称量范围。 3.7清晰的高对比显示屏（HCD）.轻松读取称量结果。 3.8 按键触发的内部和外部砝码自动校正 3.9 内置RS232接口 *3.10塑料保护罩 3.11天平下称量装置 3.12优化天平环境适应性的称量适配器 *3.13 三个功能键，可直接进入预设应用程序 *3.15 易于使用的天平诊断测试功能 3.16 1/10d可读性缩位功能，快速获得稳定称量结果 3.17 显示两种不同的称量单位，实现便捷的单位互换 3.18 全量程范围去皮 3.19全自动校准技术（FACT）.温度漂移和时间触发的全自动校正。确保获得准确的称量结果。 3.20动态温度补偿，实时修正环境温度波动对称量结果的影响 3.21防风罩锁定装置(QuickLock)，无需使用工具和移动天平，即可方便的拆卸所有防风罩玻璃，甚至使用洗碗机进行清洗 3.22前置水平调节脚和水平指示器，方便观察和调节水平。水平锁定装置(LevelLock)，提供良好的稳定安全性。 3.23全金属机架具有良好的抗过载保护性能