显微EL-PL综合光谱测试系统（JLU-KC20095）中标结果
显微EL-PL综合光谱测试系统（JLU-KC20095）中标结果
项目名称:显微EL-PL综合光谱测试系统（JLU-KC20095）成交结果公告
| 项目名称 | 显微EL-PL综合光谱测试系统 | 项目编号 | JLU-KC20095 |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 160*****91000 | 公告截止日期 | 160*****00000 |
| 采购单位 | 吉林大学 | 付款方式 | 国产：货到验收合格办理相关手续后100%付款。 |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 无 | 到货时间要求 | 国内合同签订后120个工作日内 |
| 预 算 | 无 | ||
| 收货地址 | 吉林大学前卫南区 | ||
| 供应商资质要求 |
符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 显微EL-PL综合光谱测试系统 | 1 | 套 | 其他仪器 |
| 品牌 | 哥尔飞光电 |
|---|---|
| 型号 | GEF EL-PL |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | 无 |
| 技术参数及配置要求 | 显微EL-PL综合光谱测试系统是研制设备“紫外-红外宽谱范围高压光电特性瞬态测试系统”的组成部分之一，用于实现高压原位电致/光致光电流测试功能。1. 紫外-近红外电致发光测试光路1.1 反射式物镜1.1.1 放大倍数不低于20倍1.1.2 适用波长范围：不低于250-10000nm1.1.3 工作距离不低于15mm1.1.4 辅助安装环驱动可变光阑，光斑直径连续可调，调节范围不低于1~5 mm1.2 反射式光谱收集光路1.2.1 焦距不低于100mm1.2.2 使用光纤无色差收集250-1100nm的样品发射光1.2.3 光路包含多轴调整架及指示LED，可以通过图像观察测试范围，测试范围不低于8微米（50倍物镜下）1.3 变温加热平台1.3.1 尺寸不低于4英寸1.3.2 样品台加热最高温度不低于150℃，温度控制稳定性优于±1℃，带加热开关1.4 紫外-近红外辅助对焦滤光片及安装支架滤光后可用400、670nm照明特征波长，辅助调节聚焦位置及样品成像识别2. 405nmPL光谱测试光路2.1 405nm光纤激光聚焦照明光路使用可调节的FC/APC可调光纤耦合器将光纤激光准直或者聚焦进入光路，并且使用6轴调整架将激光准确正入射聚焦于样品表面，光斑尺寸小于1微米；带OD3衰减片切换器，可以快速衰减激光光强；带六孔手动衰减片转轮，包含OD0.3-OD2共5片衰减片2.2 405nm光纤激光均匀照明光路将单模光纤激光耦合进入多模光纤，并且使用6轴调整架将激光准确正入射聚焦于样品表面，光斑尺寸不低于8um（50倍物镜）；带OD3衰减片切换器，可以快速衰减激光光强；带六孔手动衰减片转轮，包含OD0.3-OD2共5片衰减片2.3 405nm激光用PL测试滤光片组包含净化滤光片，二向色滤光片和长波通滤光片，测试范围不低于430nm-1000nm2.4 提供探针台显微光路耦合安装接口和爬升转接光路3. 光纤耦合光谱仪3.1 背照式制冷型光纤光谱仪3.2 可以测量PL光谱和电致发光光谱，测量范围不低于200-1000nm，不低于2048像素，分辨率优于3nm4. 光谱测试软件4.1 光致发光光谱测试功能，包含扣除暗背景功能和平均功能；4.2 电致发光光谱测试功能，包含扣除暗背景功能和平均功能，并且可以自动控制源表或者皮安表，测量不同电压的电致发光光谱；5. 电致发光激发模块5.1激发源表控制模块：高精度光电测试通道，调用最大偏压±30V，电流测量分辨率优于1fA；5.2 2个三同轴探针座，行程X-Y-Z 方向分别不低于12.5mm，带磁力吸附开关；探针夹具漏电流不高于1pA。 |
| 售后服务 | 服务网点:外地;电话支持:7x24小时;服务年限:一年;服务时限:报修后4小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品;质保期:一年;质保期外维修仅收取配件费用，无人工费; |
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