大量程硅薄膜厚度测量系统评标公示
大量程硅薄膜厚度测量系统评标公示
项目名称:上海微系统所-大量程硅薄膜厚度测量系统
项目编号:****-********3217/01
大量程硅薄膜厚度测量系统
招标机构:上海机电设备招标有限公司
业主:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
开标时间:2012-12-19 09:30:00.0
评标公示截止时间:2012-12-26 17:05:56.022
评标结果公示状态:无投诉
候选人名单:建议中标人第一名 岱美有限公司
制造商名称:第一名 美商菲乐有限公司
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