ST2242交流四探针电阻率测试仪(JJ20210293)成交结果公告

ST2242交流四探针电阻率测试仪(JJ20210293)成交结果公告

项目名称ST2242交流四探针电阻率测试仪项目编号JJ********
公告开始日期161*****49000公告截止日期161*****00000
采购单位重庆大学付款方式货到验收合格后付款
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签约时间要求到货时间要求合同签订73个工作日内
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收货地址重庆大学
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购商品采购数量计量单位所属分类
ST2242交流四探针电阻率测试仪1电子测量仪器
品牌晶格电子
型号ST2242
品牌2
型号
品牌3
型号
预算
技术参数及配置要求一、结构特征仪器+探头+测试台等成套连接图转接头和仪器连接 A转接头和仪器连接 B2.1基本功能和依据标准:ST2242 手持式交流四探针测试仪是专为不适用直流四探针法测试的样品,主要是离子导电物质(如电解质溶液、导电凝胶)和导电粉体悬浊液(如碳粉、石墨烯粉体浆料)设计的电阻率测试仪器。该仪器设计符合 GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M标准。2.2仪器成套组成:ST2242 交流四探针电阻率测试仪由主机、测试台、测试探头等组成。2.3优势特征:1:本测试仪特增设测试结果自动分类功能。2:可定制 USB 通讯接口,便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。3:8 档位超宽量程,行业领先。 同行一般为五到六档位。4: 仪器小型化、手动/自动一体化。5: 仪器操作简便、性能稳定,所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入,简便而且免除模拟定位器的不稳定。2.4探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1)配高耐磨的碳化钨探针探头,如 ST2253-F01 型,以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;2)配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头,如 ST2558B-F01 型,可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或 PE 膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO 膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。2.5测试台选配:SZT-C 四探针测试台2.6适用范围:广泛应用于科研单位、高等院校对凝胶、溶液、离子导电材料以及不适用于直流测试样品的导电性能的测试。三、基本技术参数3.1测量范围1、电阻率:2πS*(0.10Ωm~100kΩm),( S 针距,单位 m)2、电阻:0.10Ω~100.0kΩ3.2材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)直径:SZT-B/C/F 测试台直接测试方式 180mm×180mm,手持方式不限. 长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm,手持方式不限.测量方位: 轴向、径向均可3.3量程划分及误差等级测量功能测量范围精度分辨力电阻(R)0.200Ω~2.000Ω±5%rdg±5dgt0.001Ω02.00Ω~20.00Ω±3%rdg±3dgt0.01Ω020.0Ω~200.0Ω±3%rdg±3dgt0.1Ω0200Ω~2000Ω±3%rdg±3dgt1Ω02.00kΩ~20.00kΩ±5%rdg±5dgt10Ω20.0kΩ~100.0kΩ±10%rdg±5dgt10Ω电阻率(ρ)2πS*R,( S=0.001 m/0.002m)测试范围及误差等级参照 R 量程划分3.4四探针探头(选配其一或加配全部)(1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距 1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调(2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距 2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调3.5.电源DC 8.4V (充电锂电池,大容量电池为厂家定制)3.6.外形尺寸、重量:主机: 240mm(长)×130 mm(宽)×50mm(高),净重:≤2.5kg3.7带电脑软件,可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。3.8USB 通讯接口,通用性好、方便快捷。
售后服务电话支持:7x24小时;质保期限:2年;响应时间:24小时;发票类型:增值税专用发票;贰年质保期。行业标准提供服务;

信息来源:https://www.yuncaitong.cn/publish/2021/04/09/20KN9MFLK49I7330.shtml

标签: 测试仪 电阻 探针

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