序号

设备名称

技术参数

数量（台）

备注

1

老化试验箱

1、电源电压：220V±10%

2、升温时间：20℃～200℃50min

3、控温范围：常温～200℃

4、控温精度：±0.1℃

5、均匀度±1.5℃

1

2

微机控制通用型万能试验机

1、最大试验力：5000N
2、试验力准确度：优于示值的±1%
3、试验力测量范围：50-5000N
4、试验力示值误差：示值的±1.0%以内
5、试验力分辨率：最大试验力的1/300000，全程不分档，或根据用户要求分五档。
6、位移相对误差：优于示值的±0.5%；
7、横梁位移测量分辨力：≥0.001；
8、横梁速度范围：0.001mm/min-500mm/min无级调速、任意设定
9、有效试验空间：800mm；
10、电源：380V±10%，50Hz

1

序号

设备名称

技术参数

数量（台）

备注

1

X射线衍射仪

一、基本要求

1.1功能要求：能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量分析、晶体结构分析等功能。

1.2产品要求：所提供的产品必须是通过技术鉴定、并由第三方出具的检定证明书、按国家标准生产的合格产品。

二、硬件配置：X射线发生器、高精密测角仪、探测器、计算机控制系统、数据处理、相关应用软件和循环冷却水装置等。

三、主要性能指标：

3.1X射线光源部分

3.1.1X射线发生器部分

3.1.1.1最大输出功率：≥3kW

3.1.1.2电流电压稳定度：优于±0.01%（电压波动±10%时）

3.1.1.3X射线防护：散射线剂量≤1μSv/h

*3.1.2金属陶瓷X射线管

3.1.2.1光管类型：Cu靶，功率2.4kW

3.1.2.2光管焦斑：1x10mm

3.1.2.3质保期：3000小时或2年

3.1.2.4自动控温冷却水制冷冷却装置（分体结构）

3.2测角仪、控制部分

3.2.1测角仪：样品水平θs-θd结构，衍射圆半径≥200mm

*3.2.1.1扫描方式：连续、步进、Omg扫描方式

3.2.1.2最小步宽：0.0001°

3.2.1.3角度重现性小于0.0005°

*3.2.1.4驱动方式：伺服电机+光学编码技术控制

3.2.1.5最高定位速度≥1000°/min

3.2.1.6角度测量范围：θs/θd联动时-3°～160°

3.3.封闭正比或闪烁体探测器

3.3.1能量分辨率：<25%（正比）或<50%（闪烁）

3.4计算机部分

计算机应为国内知名品牌，带正版Windows操作系统，硬盘不小于500G，带DVD可刻录光驱，19寸LCD显示器，A4幅面激光打印机。

3.5软件部分

软件功能要求：软件应为WindowsXP或以上操作系统，可进行设备控制、数据采集、数据处理。软件应可扣背景，物相定性、定量分析，K射线剥离，全图谱拟合，半高宽、晶粒尺寸计算。

要求提供以下应用分析软件

3.5.1物相检索软件

3.5.2物相定量分析

3.5.3晶体结构精修计算软件

3.6附件部分

3.6.1石墨单色器（石墨平晶单色器反射率大于28%）1套

3.6.2仪器正常运行的备件1套

注：带有*的指标必须响应，并能提供相应的证明资料。

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