高分辨寛场成像系统（A-WZBX0158）成交结果公告
高分辨寛场成像系统（A-WZBX0158）成交结果公告
| 项目名称 | 高分辨寛场成像系统 | 项目编号 | A-WZBX0158 |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 164*****90000 | 公告截止日期 | 164*****00000 |
| 采购单位 | 厦门大学 | 付款方式 | 无 |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 无 | 到货时间要求 | 无 |
| 预 算 | ******.0 | ||
| 收货地址 | 曾宪梓楼421室 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 高分辨寛场成像系统 | 1 | 台 | 无 |
| 品牌 | 无 |
|---|---|
| 型号 | 无 |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | ******.0 |
| 技术参数及配置要求 | 一、技术指标：1.★无限远光学系统：采用新ICCS无限远光学系统,具有轴向和径向双重色差反差校正，同时校正图像衬度，得到的图像高分辨率、高反差、高色还原。2.国际标准齐焦距离，≤45mm，具备明场，相差、DIC、荧光等观察方式。。3.透射光照明器：长寿命100W卤素灯光源，石英集光镜，亮度可调节。4.光学部件使用金属镀膜，防霉但不得使用化学药剂。5.主机左侧分光：有100% vis : 0% L / 0% vis : 100% L 模式。6.高级显微镜主机，全金属结构，金字塔形主机结构设计，机械/温度稳定性高。7.V型光路设计，光程最短，光效率最高，提高图像信噪比。8.编码物镜转盘≥6孔位，软件自动识别物镜倍数。9.调焦系统:组合式金属结构、精细的粗微调焦系统，谐波齿轮设计的防止调焦下滑机构，不得使用易损的摩擦圈作为松紧调节和防止物台下滑机构。10.物镜：配置5X/10x / 40x 荧光物镜，20x/63x复消色差荧光物镜。11.荧光光路：a)★复消色差荧光光路，在光路设计上对多通道荧光图像进行色差优化；340至700nm荧光通过率大于50%；使用荧光光陷阱技术有效消除杂散光干扰。b)荧光滤色块转盘：≥6孔位，电动切换，切换时间小于200ms。c)荧光滤色块：预定位功能滤色块，无需要任何工具方便拆装，支持热插拔。d)控制荧光光闸、光阑、透射/反射切换；内置荧光快门。e)荧光滤色片：三组荧光滤色片，满足蓝、绿、Rodamin荧光的观察。12.荧光光源：长寿命金属卤素灯照明系统，寿命≥2000h13.人机工程学目镜观察镜筒，视野数≥23，可3600自由旋转，上下翻转调节瞳距和眼点高度。14.目镜2颗，放大倍数10x，视野数≥23，双目屈光度可调。15.聚光镜：万能长工作距离聚光镜（PH，DIC，PlasDIC），数值孔径≥0.35，消色差消球差，工作距离≥70mm16.结构照明光学切片成像系统:16.1★采用光栅扫描式结构光学成像方式实现近似共聚焦显微镜光学切片成像效果，且成像模式可以在普通显微镜模式和光学切片模式间迅速切换； 16.2★具有三个不同密度光学栅格，可电动切换，不同的物镜对应不同的光学栅格，以达到最好的光学切片效果，适合5x～100x的物镜范围。16.3★所配置物镜均可实现荧光样品光学切面效果；且不同物镜切换时，所对应的不同的光栅能够自动匹配； 16.4★在光学切面模式下能够实现Z轴多层图像采集并实现3D重构；17.同厂同品牌摄像系统。17.1 ★显微数码专用单色制冷型CCD，芯片尺寸≥1英寸17.2 ★物理像素：≥600万；像素尺寸≥4.54 μm x 4.54 μm17.3 ★动态范围≥2500：117.4 曝光时间：250μs至60s17.5 ★满井电子容量：15Ke17.6 Binning模式：1x1到5x5；数字化范围：14bit；17.7 低于室温20℃的电子制冷17.8 拍摄速度：Binning 1x1≥20幅/秒（2752x2208）；Binning 5x5≥58幅/秒（554x448）17.9 暗电流：0.06 e/pixels/s18. 原厂同品牌成像软件分析系统18.1 图像软件：与显微镜同品牌专业图像处理控制软件，可自定义拍摄流程；18.3 多通道成像：一键式完成样本不同颜色荧光及透射光拍摄；18.4 Z轴序列拍摄：拍摄样本的不同Z轴平面显示立体结构；18.5图像及图像的备注信息和原始扫描条件可保存于同一文件，以图像数据库方式管理组织数据，可以浏览缩略图及相关信息。可以从数据库中直接使用拍摄条件调用功能调用硬件设置；18.6具有图形化的感兴趣区域荧光强度平均值分析；18.7具有直方图（Histogram）分析工具，可测量直线和任意形状曲线的荧光强度分布，可测量长度、角度、面积、荧光强度；18.8免费图像浏览软件，可用于系统以外的任意计算机，以便于浏览、输出共聚焦图像； |
| 售后服务 | 无 |
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