台阶仪（XF-WSBX-2200125）成交结果公告
台阶仪（XF-WSBX-2200125）成交结果公告
| 项目名称 | 台阶仪 | 项目编号 | XF-WSBX-******* |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 165*****02000 | 公告截止日期 | 165*****00000 |
| 采购单位 | 浙江大学 | 付款方式 | 货到付款。境内供货的，甲方在到货验收后15日内向乙方一次性支付本项目的总款项。 境外供货需要由甲方办理进口减免税业务的，也必须以人民币报价，且包含货送到用户指定实验室前的所有费用。甲方指定的外贸代理公司在甲方到货验收后15日内向乙方指定的外方公司一次性支付款项。支付方式在《技术参数及配置要求》栏内另有约定的，从其约定。 |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后3天 | 到货时间要求 | 成交后60天 |
| 预 算 | ******.0 | ||
| 收货地址 | 浙江大学玉泉校区第八教学楼339 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 台阶仪 | 1 | 台 | 容器类 |
| 品牌 | Bruker |
|---|---|
| 型号 | DektakXT |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | ******.0 |
| 技术参数及配置要求 | 膜厚测试仪（台阶仪）主要用于薄膜材料厚度（2D）测量。可获得精确定量的台阶高度、线粗糙度,薄膜曲率半径，应力测试等薄膜几何参数。应满足以下技术指标：1. ★最大扫描长度≥50mm；2. ★测试所允许的最大样品高度≥50mm；3. ★垂直方向的扫描范围≥900微米；4. ★测试高度方向的重复性≤0.4nm（1微米的标准台阶）；5. 测试垂直分辨率≤0.1nm；6. 光学系统：彩色CCD 180x放大倍率；7. XY移动载物台，X≥100mm行程,Y≥100mm行程；8. 探针压力：1-15mg能精确控制探针压力，保证在不同力下不破坏样品；9. 提供证书的校准用标样；10.系统具有超光滑平面,保证扫描基线稳定性；11. ★可以在原仪器上直接从2D升级成3D模式，不需要重新购买一台新仪器；12.提供专用分析软件并终身免费升级；13． 多次扫描分析≥15次；14. ★仪器采用成熟的LVDT传感器,保证仪器稳定性，数据重复性和可靠性；15. 单次扫描最大采样点数120,000；16. ★标配带有磁吸附自动更换探针附件工具，而不是固定在设备主机上；17. 仪器配有环境保护罩，防止静电环境影响；18.计算机配置，最新64位操作系统，320G硬盘，4G内存，23寸显示器，保证数据处理的流畅；19. 薄膜应力测量功能；注： （1）标★的为必须满足的重要技术指标；（2）成交后货物需送至买方指定地点；（3）成交后十年内需为买方提供两次移机服务。（4）期待到货时间：签订合同后15周内。 |
| 售后服务 | 服务网点:当地;电话支持:7x24小时;服务年限:1;服务时限:报修后4小时;销售资质:协议供货商;商品承诺:原厂全新未拆封正品; |
标签:
0人觉得有用|
招标
|
- 关注我们可获得更多采购需求 |
关注 |
最近搜索
无
热门搜索
无
