半导体器件光辐照参数测试仪

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半导体器件光辐照参数测试仪

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发布时间：2022-10-08 16:44:06 截止时间：2022-10-11 13:30:00
基本信息：
国产含税
增值税专用发票
货到验收合格后付款
合同签订后7天内送达
免费上门安装（含材料费）
(元)
申购明细：
序号
1
采购内容
半导体器件光辐照参数测试仪
数量
1台
预算单价
品牌
型号
上海棱光F97Pro
规格参数
上海棱光F97Pro1、激发和发射带宽 2nm/5nm/10nm/20nm2、分辨率 2nm3、波长准确性 ±1nm4、波长重复性 ≤0.5nm5、激发波长范围 200nm~900nm6、发射波长范围 200nm~900nm7、测量线性 ≥0.9958、波长扫描速度 多档速度可选，最高速度达*****nm/min
质保及售后服务
按行业标准提供服务
附件
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联系人：郝工
电话：010-68960698
邮箱：1049263697@qq.com

标签: 参数测试仪 半导体 辐照

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