纳米粒度及zeta电位分析仪(JJ2022000182)成交结果公告
纳米粒度及zeta电位分析仪(JJ2022000182)成交结果公告
项目名称 | 纳米粒度及zeta电位分析仪 | 项目编号 | JJ********** |
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公告开始日期 | 166*****11000 | 公告截止日期 | 166*****00000 |
采购单位 | 福州大学 | 付款方式 | 详见提示信息 |
联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
签约时间要求 | 成交后15个工作日内 | 到货时间要求 | 外贸:办理免税后120个工作日内 |
预 算 | ******.0 | ||
收货地址 | 福州大学旗山校区 | ||
供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
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纳米粒度及zeta电位分析仪 | 1 | 台 | 特种设备 |
品牌 | 英国马尔文帕纳科 |
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型号 | zetasizer pro |
品牌2 | 无 |
型号 | 无 |
品牌3 | 无 |
型号 | 无 |
预算 | ******.0 |
技术参数及配置要求 | (一)、系统:*1、光源采用高性能He-Ne气体激光器, 不可使用固体激光器,波长633nm,输出功率≥4mW;2、激光能量可自动调节,范围:100%-0.0003%;▲3、采用雪崩光电二极管(APD)检测器;4、高速数字相关器:>4000物理通道,线性范围 > 1011;5、温度范围:0℃ to 120℃;控温精度:±0.1℃;6、主机具有气体接入端口,可以通过连接压缩空气或者压缩氮气控制冷凝;7、光路过滤转盘:配备荧光过滤装置,可选择性加入或者移出,有效避免样品荧光影响,同时不损失仪器灵敏度;配备偏振光过滤装置(水平、垂直),可选择性加入或者移出,区分平移扩散和旋转扩散,有效去除粒度测量中的错误信号;▲8、衰减器数量≥10个;(二)、粒度测量:*1、粒度测量范围:0.3 nm - 10μm;▲2、粒度测量角度:173°和13°;▲3、检测位置可自动连续移动;4、粒度检测最小样品体积:≤12ul;5、粒度检测最大样品浓度:40% w/v;6、数据采集的子运行时间≤1.8s;7、具有三种以上粒径分布计算模式(通用模式,窄峰模式,蛋白模式)(三)、ZETA电位测量:1、ZETA适合检测粒度范围:3.8nm-100um;*2、ZETA电位范围:无有效限制;3、迁移率范围:大于 ± 20 μ.cm/V.s;4、具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量电泳迁移率和Zeta电位减少了与较高离子浓度下的电极极化有关的误差;▲5、采用折叠毛细管电位样品池,避免交叉污染;6、可选配高浓度Zeta电位样品池套件;7、ZETA电位检测最小样品量:≤20ul:8、电导率范围:0 - 260 mS/cm;9、ZETA电位测量最大样品浓度: 40% w/v;(四)、软件系统:1、“自适应相关”算法,极大提高了数据的重复性,测试速度提高2倍以上;2、提供专家诊断程序,判断测试质量;3、灰尘过滤器 - 消除灰尘影响;4、平均结果,标准偏差自动计算 |
售后服务 | 质量保证期:验收合格之日起算一年;服务网点:当地;维修响应时限:报修后24小时内响应;电话支持:7×8小时;备用机:72小时内无法排除故障,免费提供同档次备用机;质保期外:质保期外承担终身维修服务,维修过程只收取配件费,且以最优惠价格提供; |
标签: 分析仪
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