纳米粒度及ZETA电位分析仪（JLU-KC22194）成交结果公告

招 标 正 文
 

纳米粒度及ZETA电位分析仪（JLU-KC22194）成交结果公告

项目名称纳米粒度及ZETA电位分析仪项目编号JLU-KC*****
公告开始日期166*****43000公告截止日期166*****00000
采购单位吉林大学付款方式T/T到付
联系人中标后在我参与的项目中查看联系电话中标后在我参与的项目中查看
签约时间要求成交后10个工作日内到货时间要求国内合同签订后100个工作日内
预 算无
收货地址CIP长春机场
供应商资质要求

符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件

采购商品采购数量计量单位所属分类
纳米粒度及ZETA电位分析仪1台分析仪器
品牌PSS
型号Nicomp Z3000 plus
品牌2无
型号无
品牌3无
型号无
预算无
技术参数及配置要求2.1粒度测量范围0.3nm～10μm；2.2ZETA电位测量范围：0.3nm～100μm；ZETA电压值范围：-500–500mV.ZETA电势最大导电率：200mS/cm.电泳迁移率：> +/- 20 μ.cm/V.s场强范围：0.1–200伏/厘米.2.3激光光源： 35mW大功率半导体激光发生器；2.4探测器：双探测器：PMT+APD探测器；2.5采用最新的高速数字相关器>4000通道；线形范围 > *****.6温度范围：0oC～90oC，精度±0.1oC，无冷凝；2.7 双温控系统，即对样品池控温，又对激光光源控温，延长激光使用稳定性和寿命；2.8激光功率监视器(用户可触摸屏控制AD和AS系统)2.9测量精度误差：≤±3%2.10 最小测样量：50μL。2.11 样品浓度：最低0.1mg/mL,最大固相浓度40%。2.12 粒径检测角度：全角度：10-175°，步长0.7°，包含90°。Zeta检测角度： 14.9°。2.13数据分析算法：采用Gaussian分布算法和Nicomp多峰算法，独立展示；2.14 样品PH值范围：1-142.15经久耐用的钯电极装置，无需校正，非耗材。2.16运用PALS相位分析技术。支持恒流或恒压模式，在水相和有机相中均可进行稳定的电位检测，采用moluchowski limit和 Hückel limit双模式，适配不同双电层厚度。2.17支持卡方值分析，可选择Chi.作为测试结束限定。2.18支持自定义设置累计分布检测指标， D00~D100任意值。2.19具有ND filter功能，可自由稳定适应不同浓度下光强值。2.20支持Time History分析功能,可以监测时间和粒径的实时关系变化；2.21模块化设计，可额外选配全自动多组进样、自动稀释等功能模块。
售后服务服务网点:当地;电话支持:7x8小时;服务时限:报修后24小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品;质保期:一年;

信息来源：https://www.yuncaitong.cn/publish/2022/12/01/20LB4EX36DMT3BSR.shtml

联系人：郝工
电话：010-68960698
邮箱：1049263697@qq.com

标签: 分析仪 TA

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