安立光谱分析仪(XF-WSBX-2200867)成交结果公告
安立光谱分析仪(XF-WSBX-2200867)成交结果公告
项目名称 | 安立光谱分析仪 | 项目编号 | XF-WSBX-******* |
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公告开始日期 | 166*****16000 | 公告截止日期 | 167*****00000 |
采购单位 | 浙江大学 | 付款方式 | 货到付款,甲方在到货验收后15日内向乙方一次性支付本项目的总额 |
联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
签约时间要求 | 无 | 到货时间要求 | 成交后80天 |
预 算 | ******.0 | ||
收货地址 | 杭州西湖区浙江大学紫金港校区东五光及电磁波研究中心102 | ||
供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 |
采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
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安立光谱分析仪 | 1 | 台 | 光学仪器 |
品牌 | 安立 |
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型号 | MS9740B |
品牌2 | 无 |
型号 | 无 |
品牌3 | 无 |
型号 | 无 |
预算 | ******.0 |
技术参数及配置要求 | 1.使用范围光谱分析仪主要用于对光有源器件和无源器件的分析测试,包括波分复用(WDM)系统中的光器件如合波器、分波器、光放大器等器件的光学参数进行测量和分析,能够显示各波图形并具有自动校准功能。主要测量和分析的光学参数有: 波长参数:中心波长、平均波长、-20dB 带宽、RMS谱宽、通带带宽等参数。功率参数:峰值功率、总功率、光信噪比、边模拟制比、增益平坦度、插损、隔离度、方向性等参数。2.技术指标要求(1)*波长范围:600~1750nm (2)波长绝对精度: ±0.02nm(1520nm~1620nm)(3)*分辨率带宽(FWHM) :可从0.03,0.05,0.07,0.1,0.2,0.5,1.0 nm中任选(4)波长稳定性: ≤±5pm(5)波长线性度:±20pm(1520nm~1620nm)(6)最大输入功率:+23dBm(7)*接收机灵敏度:-90dBm(8)功率精度:±0.4dB(9)功率平坦度:±0.1dB(1520~1620nm)(10)功率线性度:±0.05dB(11)*偏振相关性:±0.05dB(波长1550/1600nm)(12)动态范围:60dB(±0.4nm)(13)*采样数据点:51~*****(13)*光接口回损≥35dB(FC/PC接头)(14)*扫描速度:0.35 s/30 nm3.光谱仪主要测试功能:1)支持多种光信号特性的分析,包括:功率(支持积分功率)、ndB带宽、波形差别、标记功能、包络、边模抑制比和光谱功率等2)*支持大容量的波形存储器(同时显示10条曲线)和波形差别计算功能,支持多种无源器件的评估,包括FBG, AWG, OBPF,WSS等 3)支持最大保持和最小保持功能,能够连续的测量光信号的变化,通过波形扫描以及扫描范围处理的高速化,可以实时地确认光谱的变化及噪声电平的变动情况。4)*支持专用的WDM测试模式:可以进行中心波长、峰值功率、通道间隔和OSNR的测试分析,支持峰值积分功率的计算,支持使用拟合法对100Gb/s光信号的OSNR进行测试。 5)支持EDFA 测试模式:能够显示噪声系数、增益,支持WDM光放大器多个通道同时测试NF和Gain。6)*支持信号速率达100Gb/s,WDM信号间隔50GHz7) 支持LD激光器测试模式:能够同时显示中心波长、光功率、OSNR ( 实际测量值)、OSNR ( 噪声电平/nm)、SMSR、边模峰值波长和功率等8)支持DFB-LD、FP-LD、LED 专用光源测试模式和WDM滤波器测试模式。4. 其它要求1)*采用WINDOWS操作系统2)支持接口:显示接口、USB3.0/2.0、以太网3)支持PNG和BMP格式的测试数据的存储,可存储1000个曲线4)支持不小于8.4英寸的显示器5)支持以太网及GPIB接口用于远程控制6)支持多种光连接器类型:FC、SC、ST 及 DIN******)支持调制光和脉冲光测试时的外部触发输入端口*8)电源功耗不超过80W9)工作温度: 5℃~ 45℃, 存储温度: –20℃~ 60℃, 相对湿度: 0 ~ 90% ( 无冷凝) |
售后服务 | 服务网点:当地;电话支持:7x24小时;质保期:3;服务时限:报修后48小时;销售资质:协议供货商;商品承诺:原厂全新未拆封正品; |
标签: 光谱分析仪
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