纳米粒度及Zeta电位分析仪成交结果公告
纳米粒度及Zeta电位分析仪成交结果公告
| 项目名称 | 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪 | 项目编号 | GY********* |
|---|---|---|---|
| 公告开始日期 | 169*****77000 | 公告截止日期 | 169*****00000 |
| 采购单位 | 山东大学 | 付款方式 | 100%信用证，其中10%货到验收合格后支付 |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后10个工作日内 | 到货时间要求 | 收到信用证后3个月内 |
| 预 算 | *****.0 | ||
| 收货地址 | 山东大学兴隆山校区 | ||
| 供应商资质要求 | 符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 | ||
| 采购商品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 纳米粒度及 Zeta 电位分析仪 | 1 | 台 | 其他分析仪器 |
| 品牌 | 麦奇克 |
|---|---|
| 型号 | Nanotrac wave II |
| 品牌2 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 品牌3 | 无 |
| 型号 | 无 |
| 预算 | *****.0 |
| 技术参数及配置要求 | 粒径测量系统：1）粒度分析范围：0.3nm ~10um；2）测量理论：采用最新动态光背散射技术，异相多普勒频移分析方法，全量程范围应用米氏理论，内置非球形颗粒校正选项及常用物质光学参数；3）激光光源：3 mW波长780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品。不能使用比色皿等类似样品池，避免由于多种空间位阻对散射光信号的干扰；4）激光光路：采用先进的“Y”型光纤光路，通过蓝宝石测量窗口直接测量样品。（提供材料证明）；5）检测器：高灵敏硅光电感应二极管，应用可控参比方法，分析多普勒频移产生的能谱。6）检测角度：180o（提供材料证明）7）分析时间：30 – 120秒；8）重复性：＜1%；9）样品浓度范围：ppb - 40% ；10）温度控制系统：0~90℃，内置恒温控制技术及补偿装置。Zeta电位测量系统：1）采用先进的膜电极设计，微电场电泳测量，与纳米粒度测量一体化设计，无需变换测量环境（无需比色皿或专门的电极池），对样品直接测量，保证分析结果的可靠性（提供证明材料）；2）电导率：0-200ms/cm；3）PH值适应范围：2-12；4）光纤探头内置高灵敏度温度传感器，实时监测体系中温度的变化。分子量测量：1）测量原理：水力直径或德拜曲线；2）分子量测量范围：300– 2x107Da（提供证明材料）软件：1）采用快速傅立叶变换算法，能在Windows10或更高版本下运行，迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间；2）软件应提供一个易学易用的图形界面，该界面能提供测量各阶段所有需要的功能，数据输出和存储；3）应包括常规的报告设计功能且用户能自行设计，添加视频信息，数据库应用，其中数据库要能进行全面的搜索，分类和根据过滤条件进行数据的过滤；4）应包含常用材料的光学数据库。数据的完整性符合21 CFR PART 11等安全要求。 |
| 售后服务 | 服务网点:当地;质保期限:1年;响应期限:报修后2小时; |
标签: 分析仪
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