科研用一体化芯片测试系统采购项目成交公告

科研用一体化芯片测试系统采购项目成交公告

一、采购项目基本情况

1、项目编号:HKUSTGZ-23-G*****

2、项目名称:科研用一体化芯片测试系统采购项目

3、采购方式:公开比选

二、成交结果

1、成交供应商:北京曾益慧创科技有限公司

2、成交供应商地址:北京市怀柔区庙城镇庙城村临300号401室

3、拟成交金额:

1)人民币部分: RMB 678,900.00 元

2)美元部分:USD 550,580.00

4、主要成交信息:

产品名称

产地品牌型号

数量

单位

单价

高密度芯片测试系统

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-8881等

1

USD 106,130.00

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-5164

1

RMB 226,300.00元

存算一体芯片测试系统

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-5433等

1

USD 124,180.00

硅光芯片测试系统

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-2532B等

1

USD 125,780.00

便捷式高速器件测试系统

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-6571等

1

USD 99,400.00

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-5164

1

RMB 226,300.00元

便捷式源测量系统

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-4163等

1

USD 95,090.00

马来西亚/匈牙利 NI

PXIe-5164

1

RMB 226,300.00元

三、公告期限

自本公告发布之日起1个工作日

四、凡对本次公告内容提出询问的,请按以下方式联系

联系人:何老师

联系电话:020-********

联系地址:广东省广州市南沙区笃学路1号

香港科技大学(广州)采购处

2023年11月16日


联系人:郝工
电话:010-68960698
邮箱:1049263697@qq.com

标签: 测试系统 一体化 芯片

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