透射电镜用原位加电芯片测试服务
透射电镜用原位加电芯片测试服务
| 采购信息 | 采购单位名称 | 物质科学与信息技术研究院 | |||||
| 采购项目名称 | 透射电镜用原位加电芯片测试服务 | ||||||
| 成交供应商 | 安徽芯冕技术服务有限公司 | ||||||
| 成 交 价 | |||||||
| 联系方式 | 联系邮箱 | cgzx@ahu.edu.cn | |||||
| 公示时间 | 自发布公示之日起2个工作日 | ||||||
| 采 购 清 单 | |||||||
| 序号 | 物资名称 | 规格型号 | 单 价 | 数 量 | 技术参数 | ||
| 1 | 透射电镜用原位加电芯片测试服务 | / | 4000 | 24项 | 利用电子束-离子束双束电镜，截备原位芯片加电样品，具体要求如下: 1、常规样品要求厚度150nm 左右，大小3-5微米，厚度均匀，边缘整齐、表面干净无非晶，必须保证通电，且接触电阻小于500欧: 2、样品预倾转角度:0度，30度，45度。 3、样品种类和数量:铁绪 FeGe 样品数量 (24 个：常规两电极样品12个，预倾转加电样品12个); | ||
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