透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束FIB微纳加工
透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束FIB微纳加工
| 采购信息 | 采购单位名称 | 物理与光电工程学院 | |||||
| 采购项目名称 | 透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束(FIB)微纳加工 | ||||||
| 成交供应商 | 安徽芯冕技术服务有限公司 | ||||||
| 成 交 价 | |||||||
| 联系方式 | 联系邮箱 | cgzx@ahu.edu.cn | |||||
| 公示时间 | 自发布公示之日起2个工作日 | ||||||
| 采 购 清 单 | |||||||
| 序号 | 物资名称 | 规格型号 | 单 价 | 数 量 | 技术参数 | ||
| 1 | 透射电子显微镜样品的聚焦离子束-电子束（FIB）微纳加工 | / | 1项 | 对甲方提供的基础样品利用FIB进行各向多角度多尺寸切割。径向切割（平提）16个。轴向切割（竖提）11个。再根据测试反馈修正角度，加工6个样品。样品厚度控制在50-150nm，符合透射电镜电子显微镜观测的需要。根据甲方单位要求，个性化设计所需样品的宽度和厚度，范围在100 nm到10 um。提供制备后样品的扫描电镜表征图。 | |||
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